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LTD2261XF32/R10实物图
  • LTD2261XF32/R10商品缩略图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

LTD2261XF32/R10

ADC

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描述
24位高精度、多通道,40-kSPS,delta-sigma模数转换器。器件内部集成了低噪声可编程增益放大器、低温漂高精度片内基准、用于故障检测的阈值电压监控、通用I/O口等。
商品型号
LTD2261XF32/R10
商品编号
C22450492
商品封装
QFN-32-EP(5x5)​
包装方式
编带
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录模数转换芯片ADC
分辨率24位
采样率40kHz
通道数10
属性参数值
工作电压4.75V~5.25V
接口类型SPI
差分输入-
工作温度-40℃~+125℃

商品概述

LTD226X 系列是24 位高精度、多通道,40-kSPS,delta-sigma(Δ-Σ)模数转换器。器件内部集成了诸多功能模块,用以达到单芯片实现系统级高精度测试的目的。功能模块包括:低噪声可编程增益放大器、低温漂高精度片内基准、用于故障检测的阈值电压监控、通用I/O 口等。典型应用场景有模拟输入/输出模块、RTD/热电偶测温、DCS/PLC 和精密衡器等。 器件的数据转换主通路由一个输入多路选择器(LTD2260 提供5 个通道,LTD2261 提供10 通道)、一个高精度低噪声的可编程增益放大器、一个24 位四阶Δ-Σ调制器、一个高精度低温漂的片内基准以及一个可编程数字滤波器构成。增益放大器具有低噪声、高输入阻抗的特点,有效降低由探测器负载带来的系统级测量误差。数据转换和数字滤波由四阶Δ-Σ调制器和数字滤波器实现,通过过采样技术和数据抽取对量化噪声进行整型和滤除,提高转换数据信噪比与精度,通过配置FIR 低通滤波器还可以实现50Hz/60Hz 同步工频陷波。高精度低温漂片内基准为数据转换提供参考电压。 数据转换主通路之外,器件还配备了多种功能模块用于实现便利的单芯片测试方案和过程监测机制。其中,两路独立的电流可编程高精度电流源为RTD 提供电流偏置,并且抵消掉走线的寄生电阻带来的系统误差,提高测试精度;片上温度传感器可以提供芯片的实时温度,用于监测系统工作环境;复用的GPIO 拓展了芯片的数字功能;阈值电压监控模块会对PGA 输出电压和基准输入电压进行监控,确保芯片工作在稳定状态;Burn-out 电流源可以用于检测连接到芯片的传感器状态;CRC 校验功能用于验证输入输出的数字信号是否出现传输错误,保障数据安全可靠。这颗高集成度的芯片为多样化高精度测试需求提供了单芯片测试解决方案。 LTD226X 系列采用QFN5*5-32L 封装,性能指标在-40 到 +125 °C 内测试得到。

商品特性

  • 高精度24 位delta-sigma 模数转换器
  • 低噪声:30 nVRMS (@20 SPS, gain =128)
  • 线性度:2 ppm
  • 5 路单端输入或3 路差分输入(LTD2260)
  • 10 路单端输入或5 路差分输入(LTD2261)
  • 可编程增益:1~128 倍
  • 满量程范围:± 7 mV 到 ± 5 V
  • 数据转换速率:2.5 SPS 到40 kSPS
  • 参考电压温度漂移:2 ppm/°C
  • 同步50Hz/60Hz 工频陷波
  • 单周期模式
  • PGA 输出电压/参考输入电压监控
  • 5 V 或 ± 2.5 V 供电
  • 片内温度传感器
  • 循环冗余校验
  • 两路独立电流源
  • 传感器短路检测
  • 4 路GPIO
  • 桥式电阻传感器AC 激励模式
  • SPI 兼容

应用领域

  • 温度与压力测量
  • PLC 与DCS 中的模拟输入模块
  • 衡器与应变仪
  • 科学测量与实验室仪器

数据手册PDF