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LM5066H1PWPR

LM5066H1PWPR

品牌名称
TI(德州仪器)
商品型号
LM5066H1PWPR
商品编号
C53283837
商品封装
TSSOP-28​
包装方式
编带
商品毛重
3.72克(g)

商品参数

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参数完善中

商品概述

LM5066Hx为12V、24V和48V系统提供可靠的保护和精确的监测,具备可编程UV、OV、ILIM,以及快速短路保护,适用于定制输入电源应用。可编程功率限制阈值结合可调故障定时器t_FAULT限制最大功耗,确保在包括启动和故障事件在内的所有条件下实现FET SOA保护。两级过电流消隐结合数字定时器允许更高的负载瞬态通过,支持更低的电流限制设置,降低对高SOA MOSFET的要求。集成PMBus®接口可实现对系统的实时远程监测、控制和配置。关键参数可远程访问用于遥测,各种阈值可通过PMBus配置或存储在内部EEPROM中。快速准确的模拟负载电流监测支持预测性维护和动态电源管理,包括Intel PSYS和PROCHOT功能,以优化服务器性能。黑盒故障记录功能有助于调试现场故障。LM5066H2具备双栅极驱动架构,可使用单个高SOA FET处理启动和故障条件下的功率应力,结合多个小型低RDS(ON) FET用于正常负载电流运行,减小整体解决方案尺寸。器件的工作结温范围为-40℃至+125℃。

商品特性

  • 输入工作电压范围5.5V至90V,100V最大额定值,可承受输出端最高-5V的负电压
  • 可调ILIM阈值范围为10mV至50mV
  • 可编程FET SOA保护
  • 带数字定时器的可编程过流消隐
  • 1.5A强栅极下拉,可实现快速关断
  • 可靠的短路保护,270ns快速跳闸响应,不受电源线瞬态影响
  • LM5066H2额外具备:适用于高功率应用的双栅极驱动;用于并联控制器运行的SYNC引脚;软启动电容断开功能
  • 故障FET检测
  • 可编程UV、OV、t_FAULT阈值
  • 外部FET温度检测
  • PMBus®接口,用于遥测、控制、配置和调试:片上EEPROM非易失性存储器用于配置;精确监测VIN、VOUT、IIN、PIN、VAUX,V精度<±1%,I精度<±1%,P精度<±1.75%;单命令实现电源循环;多个事件黑盒故障记录,相对时间戳存储于内部EEPROM
  • 12位ADC,采样率250kHz
  • 支持通过Read_EIN命令进行能量监测

应用领域

  • 服务器和高性能计算
  • 网络接口卡
  • 图形和硬件加速卡
  • 数据中心交换机和路由器
  • 输入热插拔
  • PLC电源管理
  • 24V至48V工业系统