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CY7C1512V18-200BZXCKU引脚图
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  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

CY7C1512V18-200BZXCKU

CY7C1512V18-200BZXCKU

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商品型号
CY7C1512V18-200BZXCKU
商品编号
C2955053
包装方式
管装
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录静态随机存取存储器(SRAM)
接口类型并口(Parallel)
存储容量72Mbit
工作电压1.7V~1.9V
属性参数值
工作温度0℃~+70℃
工作电流800mA
待机电流380mA
功能特性自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能;内置延迟锁定环

商品概述

CY7C1512V18和CY7C1514V18是1.8 V同步流水线SRAM,配备QDR II架构。QDR II架构由两个独立端口组成:读取端口和写入端口,用于访问存储器阵列。读取端口具有专用数据输出以支持读取操作,写入端口具有专用数据输入以支持写入操作。QDR II架构具有独立的数据输入和数据输出,完全消除了常见I/O设备中数据总线转向的需求。每个端口的访问通过公共地址总线进行。读取和写入地址在输入(K)时钟的交替上升沿锁存。QDR II读取和写入端口的访问完全相互独立。为了最大化数据吞吐量,读写端口均配备DDR接口。每个地址位置与两个18位字(CY7C1512V18)或36位字(CY7C1514V18)相关联,这些字顺序突发进入或离开设备。因为数据可以在两个输入时钟(K和K以及C和C)的每个上升沿传输进出设备,所以存储器带宽最大化,同时通过消除总线转向简化系统设计。

商品特性

  • 独立分离的读写数据端口
  • 支持并发事务
  • 250 MHz时钟,用于高带宽
  • 所有访问采用两字突发
  • 读写端口均具有双数据速率(DDR)接口(数据在250 MHz下以500 MHz传输)
  • 两个输入时钟(K和K)用于精确的DDR时序
  • SRAM仅使用上升沿
  • 两个输出数据输入时钟(C和C)以最小化时钟偏移和飞行时间不匹配
  • 回波时钟(CQ和CQ)简化高速系统中的数据捕获
  • 单一复用地址输入总线锁存读写端口的地址输入
  • 独立的端口选择用于深度扩展
  • 同步内部自定时写入
  • 提供x18和x36配置
  • 完全数据一致性,提供最新数据
  • 核心VDD = 1.8 V (±0.1 V);I/O VDDQ = 1.4 V至VDD
  • 提供165球FBGA封装(15 × 17 × 1.4 mm)
  • 提供无铅和非无铅封装
  • 可变驱动高速收发器逻辑(HSTL)输出缓冲器
  • JTAG 1149.1兼容测试访问端口
  • 延迟锁定环(DLL)用于精确数据放置

数据手册PDF