CY7C1512V18-200BZXCKU
CY7C1512V18-200BZXCKU
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- 商品型号
- CY7C1512V18-200BZXCKU
- 商品编号
- C2955053
- 包装方式
- 管装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) | |
| 接口类型 | 并口(Parallel) | |
| 存储容量 | 72Mbit | |
| 工作电压 | 1.7V~1.9V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作温度 | 0℃~+70℃ | |
| 工作电流 | 800mA | |
| 待机电流 | 380mA | |
| 功能特性 | 自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能;内置延迟锁定环 |
商品概述
CY7C1512V18和CY7C1514V18是1.8 V同步流水线SRAM,配备QDR II架构。QDR II架构由两个独立端口组成:读取端口和写入端口,用于访问存储器阵列。读取端口具有专用数据输出以支持读取操作,写入端口具有专用数据输入以支持写入操作。QDR II架构具有独立的数据输入和数据输出,完全消除了常见I/O设备中数据总线转向的需求。每个端口的访问通过公共地址总线进行。读取和写入地址在输入(K)时钟的交替上升沿锁存。QDR II读取和写入端口的访问完全相互独立。为了最大化数据吞吐量,读写端口均配备DDR接口。每个地址位置与两个18位字(CY7C1512V18)或36位字(CY7C1514V18)相关联,这些字顺序突发进入或离开设备。因为数据可以在两个输入时钟(K和K以及C和C)的每个上升沿传输进出设备,所以存储器带宽最大化,同时通过消除总线转向简化系统设计。
商品特性
- 独立分离的读写数据端口
- 支持并发事务
- 250 MHz时钟,用于高带宽
- 所有访问采用两字突发
- 读写端口均具有双数据速率(DDR)接口(数据在250 MHz下以500 MHz传输)
- 两个输入时钟(K和K)用于精确的DDR时序
- SRAM仅使用上升沿
- 两个输出数据输入时钟(C和C)以最小化时钟偏移和飞行时间不匹配
- 回波时钟(CQ和CQ)简化高速系统中的数据捕获
- 单一复用地址输入总线锁存读写端口的地址输入
- 独立的端口选择用于深度扩展
- 同步内部自定时写入
- 提供x18和x36配置
- 完全数据一致性,提供最新数据
- 核心VDD = 1.8 V (±0.1 V);I/O VDDQ = 1.4 V至VDD
- 提供165球FBGA封装(15 × 17 × 1.4 mm)
- 提供无铅和非无铅封装
- 可变驱动高速收发器逻辑(HSTL)输出缓冲器
- JTAG 1149.1兼容测试访问端口
- 延迟锁定环(DLL)用于精确数据放置
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