S25HS01GTFABHB033
S25HS01GTFABHB033
- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S25HS01GTFABHB033
- 商品编号
- C6998445
- 商品封装
- FBGA-24(8x8)
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.166克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 接口类型 | SPI | |
| 存储容量 | 1Gbit |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作电压 | 1.7V~2V | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 功能特性 | 硬件写保护;ECC纠错;上电复位 |
商品特性
- 采用45纳米技术,每个存储阵列单元存储两个数据位
- 提供多种扇区架构选项:统一架构(所有扇区为256KB)、混合配置1(顶部或底部包含32个4KB扇区,其余为256KB扇区)、混合配置2(顶部和底部各包含16个4KB扇区,其余为256KB扇区)
- 页编程缓冲区为256或512字节
- 提供1024字节(32×32字节)的一次可编程安全硅阵列
- 支持四线SPI接口,兼容多种协议(如1S-1S-4S、1S-4S-4S等),SDR选项速率最高达83 Mbps(时钟166 MHz),DDR选项速率最高达102 Mbps(时钟102 MHz)
- 支持双线SPI接口,兼容1S-2S-2S协议,SDR选项速率最高达41.5 Mbps(时钟166 MHz)
- 支持标准SPI接口,兼容1S-1S-1S协议,SDR选项速率最高达21 Mbps(时钟166 MHz)
- 具备功能安全特性,符合ISO26262 ASIL B标准并准备支持ASIL D等级
- 采用Endurance Flex架构,提供高耐久性和长数据保持分区
- 通过数据完整性CRC检测存储阵列错误
- 提供安全启动功能,报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项
- 内置纠错码,可纠正单比特错误并检测双比特错误
- 提供扇区擦除状态指示器,用于应对擦除过程中的电源中断
- 提供保护特性,包括传统的存储阵列和配置保护,以及基于单个存储阵列扇区的先进扇区保护
- 支持上电后立即访问存储阵列的自动启动功能
- 支持通过CS#信号、独立RESET#引脚或DQ3_RESET#引脚进行硬件复位
- 支持描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数
- 提供设备标识、制造商标识和标识
- 数据完整性方面:256Mb器件主阵列最小可承受64万次编程/擦除循环;512Mb器件为128万次;1Gb器件为256万次;所有器件的4KB扇区最小可承受30万次编程/擦除循环;数据保持时间最小为25年
- 工作电压范围:1.7V至2.0V(HS-T)或2.7V至3.6V(HL-T)
- 工作温度范围:工业级为-40°C至+85°C;增强工业级为-40°C至+105°C;汽车级AEC-Q100 Grade 3为-40°C至+85°C;Grade 2为-40°C至+105°C;Grade 1为-40°C至+125°C
- 封装选项:256Mb和512Mb器件提供16引脚SOIC(300mil)- SO3016、24球BGA(6×8 mm)、16引脚SOIC(300mil)、8触点WSON(6×8 mm);1Gb器件提供16引脚SOIC(300mil)- SO3016、24球BGA(8×8 mm)、16引脚SOIC(300mil)
- S25HS01GTFABHI030
- S25HS01GTFAMHM010
- S25HS01GTFAMHV013
- S25HS02GTDZBHM050
- S25HS512TDPBHM010
- S25HS512TDPBHV010
- S25HS512TDPMHM010
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- S25HS512TFABHV010
- S26HL01GTFPBHV023
- S26HL512TFPBHB000
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- S26HS02GTFPBHB053
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- S28HL01GTFPBHV030
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- S28HS01GTGZBHI033
- S29GL01GS12DAE020
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- S25HS01GTFAMHV013
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- S25HS512TDPBHV010
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- S25HS512TFABHM010
- S25HS512TFABHV010
- S26HL01GTFPBHV023
- S-8333ACEB-T8T1G
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- S-8337ABEA-T8T1G

