S28HS01GTGZBHI033
S28HS01GTGZBHI033
- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S28HS01GTGZBHI033
- 商品编号
- C6998487
- 商品封装
- FBGA-24(8x8)
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.166克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 接口类型 | SPI | |
| 存储容量 | 1Gbit | |
| 工作电压 | 1.7V~2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ | |
| 功能特性 | ECC纠错;上电复位 |
商品特性
- 采用英飞凌45纳米MIRRORBIT技术,可在每个存储阵列单元中存储两个数据位
- 提供扇区架构选项:统一架构(地址空间由全部256KB扇区组成)和混合架构(配置1:地址空间包含32个4KB扇区,位于顶部或底部,其余扇区均为256KB;配置2:地址空间包含32个4KB扇区,平均分布在顶部和底部,其余扇区均为256KB)
- 具有256或512字节的页编程缓冲区
- 提供1024字节(32 × 32字节)的OTP安全硅阵列
- 支持八进制接口(8S-8S-8S, 8D-8D-8D)
- 符合JEDEC扩展串行外设接口标准
- SDR选项运行速率高达200 MBps(200 MHz时钟速度)
- DDR选项运行速率高达400 MBps(200 MHz时钟速度)
- 支持数据选通信号,以简化高速系统中的读取数据捕获
- 具备功能安全特性:符合ISO26262 ASIL B标准并支持ASIL D,采用英飞凌Endurance Flex架构提供高耐久性和长保持分区,接口CRC可检测主机控制器与闪存设备间通信接口的错误,数据完整性CRC可检测存储阵列中的错误,SafeBoot可报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项,内置纠错码可纠正存储阵列数据的单位错误并检测双位错误,提供擦除期间断电的扇区擦除状态指示器
- 具备保护特性:针对存储阵列和设备配置的旧式块保护,以及针对单个存储阵列扇区的高级扇区保护
- 支持上电后立即访问存储阵列的AutoBoot功能
- 支持通过CS#信令方法或独立RESET#引脚进行硬件复位
- 提供描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数
- 支持设备识别、制造商识别和识别
- 512 Mb器件主阵列的最小擦写周期为1,280,000次
- 1Gb器件主阵列的最小擦写周期为2,560,000次
- 所有器件的4KB扇区最小擦写周期为300,000次
- 最小数据保持时间为25年
- 工作电压范围:1.7 V ~ 2.0 V(HS-T),2.7 V ~ 3.6 V(HL-T)
- 工业级温度范围:-40℃ ~ +85℃
- 工业增强级温度范围:-40℃ ~ +105℃
- 汽车级AEC-Q100 3级温度范围:-40℃ ~ +85℃
- 汽车级AEC-Q100 2级温度范围:-40℃ ~ +105℃
- 汽车级AEC-Q100 1级温度范围:-40℃ ~ +125℃
- 封装:512 Mb器件采用24球BGA,尺寸6 × 8 mm;1Gb器件采用24球BGA,尺寸8 × 8 mm
- S29GL01GS12DAE020
- S29GL128S11DHVV20
- S29GL128S11DHVV23
- S29GL512S11GHB023
- S-8337ACIC-T8T1G
- S29AL008J55TFAR20
- S-8338AADA-T8T1G
- S-8338AAFA-T8T1G
- S-8338ABCC-T8T1G
- S-8338ACBB-T8T1G
- S29GL01GT11DHV020Y
- 31401
- 3144.000.00.00
- 3145.000.00.00
- 3146
- 3146.000.00.00
- S29GL128S90DHI010
- 3147.000.00.00
- 31498
- 315-064-556-268
- S2D13719F00A200

