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S28HS01GTGZBHI033引脚图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S28HS01GTGZBHI033

S28HS01GTGZBHI033

商品型号
S28HS01GTGZBHI033
商品编号
C6998487
商品封装
FBGA-24(8x8)​
包装方式
编带
商品毛重
0.166克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
接口类型SPI
存储容量1Gbit
工作电压1.7V~2V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+85℃
功能特性ECC纠错;上电复位

商品特性

  • 采用英飞凌45纳米MIRRORBIT技术,可在每个存储阵列单元中存储两个数据位
  • 提供扇区架构选项:统一架构(地址空间由全部256KB扇区组成)和混合架构(配置1:地址空间包含32个4KB扇区,位于顶部或底部,其余扇区均为256KB;配置2:地址空间包含32个4KB扇区,平均分布在顶部和底部,其余扇区均为256KB)
  • 具有256或512字节的页编程缓冲区
  • 提供1024字节(32 × 32字节)的OTP安全硅阵列
  • 支持八进制接口(8S-8S-8S, 8D-8D-8D)
  • 符合JEDEC扩展串行外设接口标准
  • SDR选项运行速率高达200 MBps(200 MHz时钟速度)
  • DDR选项运行速率高达400 MBps(200 MHz时钟速度)
  • 支持数据选通信号,以简化高速系统中的读取数据捕获
  • 具备功能安全特性:符合ISO26262 ASIL B标准并支持ASIL D,采用英飞凌Endurance Flex架构提供高耐久性和长保持分区,接口CRC可检测主机控制器与闪存设备间通信接口的错误,数据完整性CRC可检测存储阵列中的错误,SafeBoot可报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项,内置纠错码可纠正存储阵列数据的单位错误并检测双位错误,提供擦除期间断电的扇区擦除状态指示器
  • 具备保护特性:针对存储阵列和设备配置的旧式块保护,以及针对单个存储阵列扇区的高级扇区保护
  • 支持上电后立即访问存储阵列的AutoBoot功能
  • 支持通过CS#信令方法或独立RESET#引脚进行硬件复位
  • 提供描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数
  • 支持设备识别、制造商识别和识别
  • 512 Mb器件主阵列的最小擦写周期为1,280,000次
  • 1Gb器件主阵列的最小擦写周期为2,560,000次
  • 所有器件的4KB扇区最小擦写周期为300,000次
  • 最小数据保持时间为25年
  • 工作电压范围:1.7 V ~ 2.0 V(HS-T),2.7 V ~ 3.6 V(HL-T)
  • 工业级温度范围:-40℃ ~ +85℃
  • 工业增强级温度范围:-40℃ ~ +105℃
  • 汽车级AEC-Q100 3级温度范围:-40℃ ~ +85℃
  • 汽车级AEC-Q100 2级温度范围:-40℃ ~ +105℃
  • 汽车级AEC-Q100 1级温度范围:-40℃ ~ +125℃
  • 封装:512 Mb器件采用24球BGA,尺寸6 × 8 mm;1Gb器件采用24球BGA,尺寸8 × 8 mm

数据手册PDF