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S29GL01GS12DAE020实物图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S29GL01GS12DAE020

S29GL01GS12DAE020

商品型号
S29GL01GS12DAE020
商品编号
C6998495
商品封装
FBGA-64(9x9)​
包装方式
托盘
商品毛重
0.741克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量1Gbit
工作电压2.7V~3.6V
属性参数值
页写入时间(Tpp)60ns
工作温度-55℃~+125℃
功能特性硬件写保护;绝对写保护;写使能锁存;ECC纠错;软件写保护;上电复位

商品概述

英飞凌S29GL01G/512/256/128S是采用65纳米制程技术制造的MIRRORBIT™闪存产品。这些器件的页访问时间最快可达15纳秒,随机访问时间为100纳秒。它们具有写缓冲区,允许在一次操作中最多编程256个字/512字节,与标准编程算法相比,有效编程时间更快。这使得这些器件非常适合当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用。

商品特性

  • 具有通用I/O的3.0V CMOS内核
  • 65纳米MIRRORBIT™技术
  • 读写/编程/擦除采用单电源(VCC)(2.7V至3.6V)
  • 通用I/O特性
  • 宽I/O电压范围(VIO):1.65V至VCC
  • x16数据总线
  • 异步32字节页读取
  • 512字节编程缓冲区
  • 以页为倍数进行编程,最大可达512字节
  • 单字和同一字多次编程选项
  • 自动错误检查和纠正(ECC) – 内部硬件ECC,可纠正单比特错误
  • 扇区擦除
  • 统一的128KB扇区
  • 编程和擦除操作的暂停和恢复命令
  • 状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法来确定器件状态
  • 高级扇区保护(ASP)
  • 每个扇区的易失性和非易失性保护方法
  • 独立的1024字节一次性可编程(OTP)阵列,有两个可锁定区域
  • 通用闪存接口(CFI)参数表
  • 100次编程和擦除循环
  • 20年数据保留
  • 封装选项:
    • 56引脚TSOP
    • 64球LAA加固BGA,13mm×11mm×1.4mm
    • 64球LAE加固BGA,9mm×9mm×1.4mm

数据手册PDF