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S26HS01GTGABHA030引脚图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S26HS01GTGABHA030

S26HS01GTGABHA030

商品型号
S26HS01GTGABHA030
商品编号
C6998472
商品封装
FBGA-24(8x8)​
包装方式
托盘
商品毛重
0.335克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量1Gbit
工作电压1.7V~2V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+85℃
功能特性ECC纠错;上电复位

商品概述

该系列产品是高速CMOS NOR闪存器件,符合JEDEC JESD251扩展SPI规范。设计用于功能安全,根据ISO 26262标准开发,以实现ASIL-B合规和ASIL-D就绪。支持HyperBus接口和传统SPI接口。两种接口均以串行方式传输事务,减少了接口连接信号的数量。SPI支持单倍数据速率,而HyperBus支持双倍数据速率。HyperBus接口每个时钟周期在数据信号上传输两个数据字节。读取或编程/写入访问由一系列16位宽、一个时钟周期的数据传输组成。读取和编程/写入操作是面向突发传输的。读取事务可以指定使用回绕或线性突发模式。在回绕操作期间,访问从选定位置开始,并在配置数量的位置中以组回绕序列继续。在线性操作期间,访问从选定位置开始,并以顺序方式继续,直到读取操作终止。写入事务传输一个或多个16位值。每个随机读取访问一个32字节的行。

商品特性

  • 采用赛普拉斯45纳米MirrorBit®技术,每个存储阵列单元存储两位数据
  • 有统一和混合两种扇区架构选项
  • 具有256或512字节的页面编程缓冲区
  • 有1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域(SSR)
  • 支持HyperBus™接口和传统(x1)SPI,符合JEDEC扩展SPI(JESD251)规范
  • 功能安全方面,是行业首个符合ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的NOR闪存
  • EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区
  • 接口CRC检测主机控制器和Semper™闪存设备之间通信接口的错误
  • 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
  • SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复选项
  • 内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED)
  • 有扇区擦除状态指示器,用于擦除期间的掉电情况
  • 提供基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护
  • AutoBoot使上电后可立即访问存储阵列
  • 通过CS#信号方法(JEDEC)和单个RESET#引脚进行硬件复位
  • 具有描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数(SFDP)
  • 具备设备标识、制造商标识和唯一标识
  • 不同容量设备的主阵列有不同的最小编程 - 擦除周期数
  • 4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期数为300,000次
  • 数据保留时间至少25年
  • 供电电压为1.7 - 2.0 V(HS - T)和2.7 - 3.6 V(HL - T)
  • 有工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 3级(-40°C至+85°C)、汽车AEC - Q100 2级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 1级(-40°C至+125°C)等温度范围
  • 256 Mb和512 Mb采用24球BGA 6×8 mm封装,1 Gb采用24球BGA 8×8 mm封装

数据手册PDF