MT57W2MH8CF-5
MT57W2MH8CF-5
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- 品牌名称
- micron(镁光)
- 商品型号
- MT57W2MH8CF-5
- 商品编号
- C5678602
- 商品封装
- FBGA-165(13x15)
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) | |
| 存储容量 | 18Mbit | |
| 工作电压 | 1.7V~1.9V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作温度 | 0℃~+70℃ | |
| 功能特性 | 边界扫描(JTAG)功能;内置延迟锁定环 |
商品概述
美光的DDR独立I/O、同步、流水线突发SRAM采用高速、低功耗CMOS设计,运用先进的6T CMOS工艺。DDR架构包含两个独立的DDR(双倍数据速率)端口以访问存储阵列。读端口有专用数据输出支持读操作,写端口有专用数据输入支持写操作,这种架构无需高速总线切换。通过公共地址总线访问每个端口,读写地址在K输入时钟上升沿锁存。每个地址位置关联两个字,它们按顺序突发进入或离开设备。消除了总线切换周期,每个时钟周期可请求新的数据事务,比无分离输入输出总线的DDR SRAM请求速率更高。深度扩展通过在K上升沿接收的单个设备选择信号(LD#)实现。所有同步输入通过由K或K#输入时钟上升沿控制的寄存器。低电平有效字节写(BWx#)允许选择字节写或半字节写。写数据和字节写在K和K#上升沿寄存。每两个突发的寻址是固定且顺序的,从最低地址开始到最高地址结束。所有同步数据输出通过由输出时钟(若有C和C#,否则为K、K#)上升沿控制的输出寄存器。使用四个引脚实现JTAG测试功能,JTAG电路用于在测试模式下串行移入移出数据。SRAM由1.8V电源供电,所有输入输出与HSTL兼容,非常适合每个时钟周期需启动新事务的应用。
商品特性
- 用于精确输出数据定位的DLL电路
- 独立的读写数据端口
- 每个周期启动DDR读或写操作
- 时钟到有效数据时间快
- 全数据一致性,提供最新数据
- 用于低DDR事务大小的两节拍突发计数器
- 读写端口双倍数据速率操作
- 两个输入时钟(K和K#),仅在时钟上升沿实现精确DDR定时
- 两个输出时钟(C和C#),用于精确飞行时间和时钟偏移匹配,时钟和数据一起传输到接收设备
- 可选的回波时钟(CQ和CQ#),用于灵活的接收数据同步
- 单地址总线
- 简单的控制逻辑,便于深度扩展
- 内部自定时、寄存写操作
- 核心VDD = 1.8V (±0.1V);I/O VDDQ = 1.5V至VDD (±0.1V) HSTL
- 具有微秒级重启功能的时钟停止能力
- 13mm×15mm,1mm间距,11×15网格FBGA封装
- 用户可编程阻抗输出
- JTAG边界扫描
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