PALC16R8-35PI

Cypress PALC20 系列器件是采用专有 N 阱 CMOS EPROM 工艺制造的高速、电可编程、紫外线可擦除逻辑器件。这些器件采用积和（与或）结构，使用户能够编程实现满足特定需求的自定义逻辑功能。PAL 器件提供 20 引脚塑料和陶瓷 DIP、塑料 SOJ 以及陶瓷 LCC 封装。陶瓷封装可选配擦除窗口；当暴露于紫外光下时，PAL 被擦除并可重新编程。编程前，与门或乘积项通过 EPROM 单元连接到输入信号的真值和补码。对 EPROM 单元进行编程可将输入项与乘积项断开。通过对这些单元进行选择性编程，可在 PALC 器件中实现特定的逻辑功能。PALC 器件提供四种功能配置，分别为 16R8、16R6、16R4 和 16L8。这些器件最多可配置 16 个输入和 8 个输出。该产品系列通过四种功能变体提供 8 个寄存器输出、8 个组合输出、6 个寄存器输出和 2 个组合输出，以及 4 个寄存器输出和 4 个组合输出的配置。16R4 和 16R6 的所有组合输出以及 16L8 的 6 个组合输出均可用作可选输入。所有寄存器输出都将寄存器的 Q 反相端反馈回主阵列。寄存器在上电时自动初始化为 Q 输出低电平、Q 反相输出高电平。所有未使用的输入端应接地。所有 PALC 器件均具备一项安全功能，可为用户专有逻辑的实现提供保护。启用后，在验证模式下将无法再访问正常阵列的内容。由于采用 EPROM 技术作为存储机制，阵列内容在显微镜下不可见。Cypress PALC 产品采用先进的 1.2 微米 N 阱 CMOS EPROM 技术制造。使用这种成熟的 EPROM 技术是打造卓越产品的基础，在可靠性、可测试性、编程和功能良率方面具有固有优势。EPROM 技术的固有优势在于，所有可编程元件均可在制造过程中进行编程、测试和擦除。这也使得器件在制造过程中能够进行 100% 功能测试。在测试操作期间预加载寄存器器件的能力使测试更容易、更高效。结合这些固有和设计特性，提供了极高的功能性、可编程性和有保证的交流性能，测试也变成了一项简单的任务。寄存器预加载功能允许用户在测试器件之前将寄存器器件初始化为已知状态，从而显著简化和缩短测试过程。

• 采用 CMOS EPROM 技术，支持重复编程
• 四分之一功耗下的高性能：传播延迟 tpD = 25 ns，建立时间 ts = 20 ns，时钟到输出延迟 tco = 15 ns，电源电流 Icc = 45 mA
• 高温性能：传播延迟 tpD = 20 ns，建立时间 ts = 20 ns，时钟到输出延迟 tco = 15 ns，电源电流 Icc = 70 mA
• 高可靠性
• 成熟的 EPROM 技术
• 静电放电保护电压 >1500V
• 100% 交流和直流测试
• 电源容差 ±10%
• 高抗噪性
• 安全功能可防止模式复制
• 100% 编程和功能测试