S26HS01GTFPBHB023

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品牌名称: Infineon(英飞凌)
商品型号: S26HS01GTFPBHB023
商品编号: C7309066
商品封装: FBGA-24(8x8)
包装方式: 编带
商品毛重: 0.166克(g)

商品参数

商品概述

该系列产品是高速CMOS NOR闪存器件，符合JEDEC JESD251扩展SPI规范。设计用于功能安全，根据ISO 26262标准开发，以实现ASIL-B合规和ASIL-D就绪。支持HyperBus接口和传统SPI接口。两种接口均以串行方式传输事务，减少了接口连接信号的数量。SPI支持单倍数据速率，而HyperBus支持双倍数据速率。HyperBus接口每个时钟周期在数据信号上传输两个数据字节。读取或编程/写入访问由一系列16位宽、一个时钟周期的数据传输组成。读取和编程/写入操作是面向突发传输的。读取事务可以指定使用回绕或线性突发模式。在回绕操作期间，访问从选定位置开始，并在配置数量的位置中以组回绕序列继续。在线性操作期间，访问从选定位置开始，并以顺序方式继续，直到读取操作终止。写入事务传输一个或多个16位值。每个随机读取访问一个32字节的行。

商品特性

采用赛普拉斯45纳米MirrorBit®技术，每个存储阵列单元存储两位数据
有统一和混合两种扇区架构选项
具有256或512字节的页面编程缓冲区
有1024字节（32×32字节）的一次性可编程安全硅区域（SSR）
支持HyperBus™接口和传统（x1）SPI，符合JEDEC扩展SPI（JESD251）规范
功能安全方面，是行业首个符合ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的NOR闪存
EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区
接口CRC检测主机控制器和Semper™闪存设备之间通信接口的错误
数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
SafeBoot报告设备初始化失败，检测配置损坏并提供恢复选项
内置纠错码（ECC）纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误（SECDED）
有扇区擦除状态指示器，用于擦除期间的掉电情况
提供基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护
AutoBoot使上电后可立即访问存储阵列
通过CS#信号方法（JEDEC）和单个RESET#引脚进行硬件复位
具有描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数（SFDP）
具备设备标识、制造商标识和唯一标识
不同容量设备的主阵列有不同的最小编程 - 擦除周期数
4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期数为300,000次
数据保留时间至少25年
供电电压为1.7 - 2.0 V（HS - T）和2.7 - 3.6 V（HL - T）
有工业级（-40°C至+85°C）、工业增强级（-40°C至+105°C）、汽车AEC - Q100 3级（-40°C至+85°C）、汽车AEC - Q100 2级（-40°C至+105°C）、汽车AEC - Q100 1级（-40°C至+125°C）等温度范围
256 Mb和512 Mb采用24球BGA 6×8 mm封装，1 Gb采用24球BGA 8×8 mm封装

数据手册PDF

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	属性	参数值
	商品目录	NOR FLASH
	存储容量	1Gbit
	工作电压	1.7V~2V

	属性	参数值
	页写入时间(Tpp)	1.7ms
	工作温度	-40℃~+105℃
	功能特性	ECC纠错；上电复位