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S26HS512TGABHM013引脚图
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S26HS512TGABHM013

S26HS512TGABHM013

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商品型号
S26HS512TGABHM013
商品编号
C7309076
商品封装
FBGA-24(6x8)​
包装方式
编带
商品毛重
0.166克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量512Mbit
工作电压1.7V~2V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+125℃
功能特性ECC纠错;上电复位

商品概述

Semper Flash 产品系列是高速 CMOS、MirrorBit NOR 闪存设备,符合 JEDEC JESD251 eXpanded SPI (xSPI) 规范。该闪存设计用于功能安全,根据 ISO 26262 标准开发,以实现 ASIL-B 合规和 ASIL-D 就绪。带有 HyperBus 接口的 Semper Flash 设备支持 HyperBus 接口以及传统 (x1) SPI。两种接口都串行传输事务,减少了接口连接信号的数量。SPI 支持 SDR,而 HyperBus 支持 DDR。HyperBus 接口 (DDR) 在每个时钟周期在数据 (DQ) 信号上传输两个数据字节。读取或编程/写入访问由内部 HyperFlash 核心的一系列 16 位宽、一个时钟周期数据传输和 DQ 信号上两个相应的 8 位宽、半时钟周期数据传输组成。数据和命令/地址信息都以 DDR 方式通过 8 位数据总线传输。时钟输入信号用于该闪存在接收 DQ 信号上的命令/地址/数据信息时进行信号捕获。读取数据选通 (DS) 是该闪存的输出,指示数据何时从...

商品特性

  • 采用赛普拉斯45纳米MirrorBit®技术,每个存储阵列单元存储两位数据
  • 有统一和混合两种扇区架构选项
  • 页面编程缓冲区为256或512字节
  • 有1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区(SSR)
  • 采用HyperBus™接口,符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准,DDR选项最高运行速度达400 MBps(200 MHz时钟速度),支持数据选通(DS)
  • 传统(x1)SPI符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准,SDR选项最高运行速度达21 MBps(166 MHz时钟速度)
  • 支持在传统SPI(x1)或HyperBus接口(x8)下默认启动
  • 具备功能安全特性,是行业首个符合ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的NOR闪存
  • EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区
  • 接口CRC检测主机控制器和Semper™闪存设备之间通信接口上的错误
  • 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
  • SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复选项
  • 内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED)
  • 扇区擦除状态指示器用于擦除过程中的掉电情况
  • 具有高级扇区保护功能,可对单个存储阵列扇区进行保护
  • AutoBoot使上电后可立即访问存储阵列
  • 通过CS#信号方法(JEDEC)和单个RESET#引脚进行硬件复位
  • 具有描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数(SFDP)
  • 具备设备标识、制造商标识和唯一标识
  • 256 Mb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为640,000次
  • 512 Mb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为1,280,000次
  • 1 Gb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为2,560,000次
  • 所有设备4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期为300,000次
  • 所有设备的数据保留时间至少为25年
  • 供电电压为1.7 - 2.0 V(HS - T)和2.7 - 3.6 V(HL - T)
  • 有工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 3级(-40°C至+85°C)、汽车AEC - Q100 2级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 1级(-40°C至+125°C)等温度范围
  • 256 Mb和512 Mb采用24球BGA 6×8 mm封装,1 Gb采用24球BGA 8×8 mm封装

数据手册PDF