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S25HL02GTDZBHB053实物图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S25HL02GTDZBHB053

S25HL02GTDZBHB053

商品型号
S25HL02GTDZBHB053
商品编号
C6801570
商品封装
BGA-24(6x8)​
包装方式
编带
商品毛重
0.166克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
属性参数值
功能特性ECC纠错

商品概述

英飞凌带有Quad SPI接口的SEMPER™闪存系列产品是高速CMOS、MIRRORBIT™ NOR闪存器件。SEMPER™闪存专为功能安全而设计,按照ISO 26262标准进行开发,以实现ASIL - B合规和ASIL - D就绪。该闪存支持传统SPI单比特串行输入输出,可选两比特(双I/O或DIO)以及四比特宽的Quad I/O(QIO)和Quad外设接口(QPI)协议。此外,QIO和QPI还有DDR读取事务,可在时钟的两个边沿传输地址和读取数据。设备的读取操作是面向突发的,读取事务可配置为使用环绕或线性突发。环绕突发从单页读取,而线性突发可读取整个存储阵列。每个存储位的擦除状态为逻辑1,编程将逻辑1(高电平)变为逻辑0(低电平),只有擦除操作才能将存储位从0变为1,擦除操作必须对整个扇区(4 KB或256 KB)执行。SEMPER™闪存提供灵活的扇区架构,地址空间可配置为统一的256 KB扇区阵列,或混合配置1(32个4 KB扇区集中在顶部或底部,其余扇区为256 KB),或混合配置2(顶部和底部各有32个4 KB扇区,其余扇区为256 KB)。单编程操作期间使用的页编程缓冲区可配置为256字节或512字节,512字节选项提供最高的编程吞吐量。该器件是带有DDP或QDP堆叠管芯的多芯片封装(MCP),封装内所有管芯的控制信号在内部连接在一起。

商品特性

  • 采用英飞凌45纳米MIRRORBIT™技术,每个存储阵列单元存储两个数据位
  • 多芯片封装(MCP)
  • 02GT双管芯封装(DDP) 2×1 Gb管芯
  • 04GT四管芯封装(QDP) 4×1 Gb管芯
  • 扇区架构选项:统一架构(地址空间由所有256 KB扇区组成)和混合架构(配置1:地址空间由32个4 KB扇区集中在顶部或底部,其余为256 KB扇区;配置2:地址空间顶部和底部各有32个4 KB扇区,其余为256 KB扇区)
  • 页编程缓冲区为256或512字节
  • 1024字节(32×32字节)的一次性可编程(OTP)安全硅阵列
  • 接口支持Quad SPI(支持1S - 1S - 4S、1S - 4S - 4S、1S - 4D - 4D、4S - 4S - 4S、4S - 4D - 4D协议,SDR选项最高运行速度83 MBps(166 MHz时钟速度),DDR选项最高运行速度102 MBps(102 MHz时钟速度))、Dual SPI(支持1S - 2S - 2S协议,SDR选项最高运行速度41.5 MBps(166 MHz时钟速度))和SPI(支持1S - 1S - 1S协议,SDR选项最高运行速度21 MBps(166 MHz时钟速度))
  • 安全特性:具备符合行业首个ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的功能安全,EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区,数据完整性CRC检测存储阵列中的错误,SafeBoot报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项,内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED),扇区擦除状态指示器用于擦除期间的掉电情况
  • 保护特性:对存储阵列和设备配置提供传统块保护,对单个存储阵列扇区提供高级扇区保护
  • 通过CS#信号方法(JEDEC)/单个RESET#引脚/DQ3_RESET#引脚进行硬件复位
  • 具备串行闪存可发现参数(SFDP)描述设备功能和特性,以及设备标识、制造商标识和唯一标识
  • 02GT DDP、04GT QDP设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为2,560,000次,所有设备4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期为300,000次,最小数据保留时间为25年
  • 供电电压范围为1.7 V至2.0 V(HS - T)和2.7 V至3.6 V(HL - T)
  • 工作温度范围包括工业级(-40°C至 +85°C)、工业增强级(-40°C至 +105°C)、汽车AEC - Q100 3级(-40°C至 +85°C)、汽车AEC - Q100 2级(-40°C至 +105°C)、汽车AEC - Q100 1级(-40°C至 +125°C)
  • 02GT DDP、04GT QDP设备采用24球BGA 8×8 mm封装

数据手册PDF