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ADATE318BCPZ
600 MHz 双集成 DCL 带 PPMU、VHH 驱动能力、电平设置 DAC 和片上校准引擎
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- 描述
- 600MHz双通道集成DCL，内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎
- 品牌名称
- ADI(亚德诺)
- 商品型号
- ADATE318BCPZ
- 商品编号
- C654386
- 商品封装
- LFCSP-84(10x10)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 2克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | ADC/DAC-专用型 | |
| 分辨率 | 16 | |
| 通道数 | 2 | |
| 工作电压 | 2.3V~3.5V | |
| 接口类型 | SPI |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 基准电压源 | 外置 | |
| 基准电压值 | 5V | |
| 数据速率 | 600MHz | |
| 静态电流 | 1uA |
商品概述
ADATE318是一款完整的单芯片ATE解决方案，可实现每引脚的驱动器、比较器和有源负载（DCL）、四象限参数测量单元（PPMU）的引脚电子功能。每个芯片具备VHH驱动能力，以支持闪存测试应用，并集成了16位DAC和片上校准引擎，为该器件的运行提供所有必要的直流电平。 该驱动器具有三种有源状态：数据高、数据低和终端模式，以及高阻抗禁止状态。禁止状态与集成动态钳位相结合，便于实现高速有源终端。输出电压能力为 -1.5 V至 +6.5 V，可适应广泛的ATE和仪器仪表应用。 ADATE318可用作双单端驱动/接收通道，或作为单差分驱动/接收通道。ADATE318的每个通道都配备了高速窗口比较器，以及用于差分ATE应用的可编程阈值差分比较器。每个通道还提供一个四象限PPMU。 DCL和PPMU功能的所有直流电平均由24个片上16位DAC生成。为便于精确的电平编程，ADATE318包含集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可存储在芯片上，写入DAC的任何值都会使用适当的校正因子自动调整。 ADATE318使用串行可编程接口（SPI）总线对所有功能模块、DAC和片上校准常数进行编程。它还具备片上温度传感器和过/欠压故障钳位，用于监测和报告器件温度，以及在运行期间可能出现的任何输出引脚或PPMU电压故障。
商品特性
- 600 MHz/1200 Mbps数据速率
- 带高阻态和反射钳位的三电平驱动器
- 窗口和差分比较器
- ±25 mA有源负载
- 每引脚PPMU，范围为 -2.0 V至 +6.5 V
- 低泄漏模式（典型值为4 nA）
- 集成16位DAC，具备失调和增益校正功能
- 高速工作电压范围：−1.5 V至 +6.5 V
- 专用VHH输出引脚范围：0.0 V至13.5 V
- 每通道功耗1.1 W
- 驱动器三电平电压范围：−1.5 V至 +6.5 V
- 精密微调输出电阻
- 未端接摆幅：最小200 mV至最大8 V
- 最小脉冲宽度725 ps，VHH - VL = 2.0 V
- 比较器差分和单端窗口模式
- 输入等效带宽 > 1 GHz
- 负载电流范围 ±25 mA
- 每引脚PPMU（PPMU）强制电压/合规范围：−2.0 V至 +6.5 V
- 5个电流范围：40 mA、1 mA、100 μA、10 μA、2 μA
- 用于系统PMU通过/不通过比较器的外部检测输入
- 完全集成的16位DAC电平
- 片上增益和失调校准寄存器及加/乘引擎
- 84引脚10 mm × 10 mm LFCSP封装（0.4 mm间距）
应用领域
- 自动测试设备
- 半导体测试系统
- 电路板测试系统
- 仪器仪表和特性分析设备