商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 芯片类型 | 电压检测器 | |
| 输出类型 | 开漏 | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 阈值电压 | 1V | |
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | 40us | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ |
商品概述
R3117x系列是基于CMOS的电压检测器IC,具有高检测阈值精度和超低电源电流,可在极低电压下运行,例如用于系统复位。每个IC由电压参考单元、比较器、用于设置检测阈值的电阻、输出驱动器和迟滞电路组成。检测阈值在内部高精度固定,无需任何调整。检测阈值的容差为±15mV(-VDET <= 1.5V)或±1.0%(1.5V < -VDET)。由于检测引脚与IC的VDD引脚分离,因此,即使检测引脚电压变为0V,输出电压仍保持其“L”电平。有N沟道开漏型和CMOS型两种输出类型可供选择。有SOT - 23 - 5、SC - 88A和DFN(PL)1010 - 4三种封装类型可供选择。
应用领域
- CPU和逻辑电路复位
- 电池检查器
- 窗口比较器
- 波形整形电路
- 电池备用电路
- R3118N421C-TR-FE
- RP300N28DA-TR-FE
- R3132Q27EA-TR-FE
- R3111D401A-TR-FE
- R3118N101A-TR-FE
- R3111Q451C-TR-FE
- R3118N321A-TR-FE
- R3117N201C-TR-FE
- R3111N252C-TR-FE
- NJU2103ARB1-TE1
- RN5VD21AA-TL-FE
- R3112D281C-TR-FE
- R3132Q30EC8-TR-FE
- R3111H241C-T1-FE
- RN5VD59AA-TR-FE
- R3112D261A-TR-FE
- R3118Q122C-TR-FE
- R3117N311A-TR-FE
- R3112D421A-TR-FE
- R3112D301A-TR-FE
- R3134N32EC-TR-FE
