R3112D261A-TR-FE
R3112D261A-TR-FE
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- 品牌名称
- Nisshinbo
- 商品型号
- R3112D261A-TR-FE
- 商品编号
- C3687009
- 商品封装
- SON1612-6
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 芯片类型 | 电压检测器 | |
| 输出类型 | 开漏 | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 阈值电压 | 2.6V | |
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | - | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ |
商品概述
R3112x系列是基于CMOS的电压检测器集成电路,具有高精度的检测阈值和超低的工作电流,可在极低电压下工作,例如用于系统复位。每个集成电路包含一个电压基准单元、一个比较器、用于设置检测阈值的电阻网络、一个输出驱动器、一个迟滞电路和一个输出延迟电路。检测阈值在内部高精度固定,无需任何调整。提供两种输出类型:N沟道开漏型和CMOS型。可选择三种封装类型:SOT-23-5、小型SC-82AB、SC-88A以及超小型SON1612-6,从而实现电路板上的高密度安装。
商品特性
- 内置输出延迟电路:典型值100毫秒(使用0.022μF外部电容时)
- 工作电流:典型值0.5μA(R3112x27xA/C,VDD=2.6V)
- 工作电压:0.7V至6.0V(Topt=25℃)
- 检测阈值:0.9V至5.0V(0.1V步进)
- 检测阈值精度:±2.0%
- 检测阈值温度漂移系数:典型值±100ppm/℃
- 输出类型:N沟道开漏型和CMOS型
- 封装类型:SON1612-6、SC-82AB、SC-88A、SOT-23-5
应用领域
- CPU与逻辑电路复位
- 电池电量检测器
- 窗口比较器
- 波形整形电路
- 电池备份电路
- 电源故障检测器
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