R3132Q27EA-TR-FE

R3132x/R3133x系列是基于CMOS的低压检测器IC，内置延迟电路，具有高检测阈值精度和超低电源电流，可在低电压下工作。这些IC可用作系统复位发生器，每个IC由电压基准、比较器、用于设置电压检测阈值的电阻、输出驱动晶体管、手动复位电路和输出延迟发生器组成。检测阈值在内部高精度固定，无需调整。当电源电压从高值降至设定的检测阈值电压时，该IC产生复位信号。R3132x系列在检测时输出“L”，而R3133x系列输出“H”。由于R3132x/R3133x系列每个IC都嵌入了输出延迟发生器，在IC内固定的240ms延迟时间内，释放后IC会保持复位状态。释放条件包括电源电压从低值升至设定的检测阈值电压，或IC从手动复位中释放。有N沟道漏极开路型和CMOS型两种输出类型。这些IC采用超小型SC - 82AB封装和SON1612 - 6封装，可在电路板上进行高密度安装。

• 电源电流：典型值0.8µA（R313xx27x：VDD = 3.0V）
• 工作电压范围：0.8V至6.0V（Topt = 25°C）
• 检测阈值：可在1.0V至5.0V范围内以0.1V为步长设置。此外，还可提供2.32V、2.63V、2.93V、3.08V、4.38V和4.63V作为标准值
• 内置上电复位延迟时间电路：典型值240ms
• 检测阈值精度：±2.0%
• 释放延迟时间精度：±15.0%
• 检测阈值的温度漂移系数：典型值±100ppm/°C
• 输出类型：N沟道漏极开路和CMOS
• 封装：SC - 82AB、SON1612 - 6

• CPU和逻辑电路复位
• 电池检查器
• 窗口比较器
• 波形整形电路
• 电池备份电路