8V182512IDGGREP

SN74LVTH18512 和 SN74LVTH182512 是带18位通用总线收发器的扫描测试器件，属于德州仪器SCOPE™可测试性集成电路家族。该器件家族支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，可助力复杂电路板组装的测试。测试电路的扫描访问通过4线测试访问端口（TAP）接口实现。此外，这些器件专为3.3-V VCC低压工作设计，同时具备向5-V系统环境提供TTL接口的能力。正常模式下，这些器件为18位通用总线收发器，集成D型锁存器和D型触发器，支持透明、锁存或时钟模式下的数据流。器件可作为两个9位收发器或一个18位收发器使用。TAP可激活测试电路，对器件引脚上出现的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。正常模式下激活TAP不会影响SCOPE™通用总线收发器的功能操作。每个方向的数据流由输出使能（OEAB和OEBA）、锁存使能（LEAB和LEBA）和时钟（CLKAB和CLKBA）输入控制。A到B数据流传输时，LEAB为高时器件工作在透明模式；LEAB为低时，若CLKAB保持静态低或高逻辑电平，A端数据被锁存；若LEAB为低，A端数据在CLKAB的低到高跳变沿存储。OEAB为低时B端输出激活，OEAB为高时B端输出处于高阻态。B到A数据流传输与A到B类似，仅使用OEBA、LEBA和CLKBA输入。测试模式下，SCOPE™通用总线收发器的正常操作被禁止，测试电路被激活以观察和控制器件的I/O边界。激活后，测试电路按照IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。

• 受控基线
• 一个组装/测试工厂，一个制造工厂
• 增强型缩减生产源（DMS）支持
• 增强型产品变更通知
• 合格组件资质符合JEDEC和行业标准，确保扩展温度范围内的可靠运行
• 属于德州仪器SCOPE™可测试性产品家族成员
• 属于德州仪器Widebus™家族成员
• 先进3.3-V ABT设计，支持混合模式信号工作（5-V输入输出电压，3.3-V VCC）
• 支持低至2.7 V的非稳压电池工作
• UBT™（通用总线收发器）集成D型锁存器和D型触发器，支持透明、锁存或时钟模式工作
• 数据输入端带总线保持，无需外部上拉/下拉电阻
• SN74LVTH182512器件的B端口输出集成等效25Ω串联电阻，因此无需外部电阻
• 提供IEEE Std 1149.1-1990要求的指令，以及可选CLAMP和HIGHZ指令
• 输入端支持并行特征分析
• 输出生成伪随机模式
• 采样输入/切换输出
• 输出二进制计数
• 器件标识
• 偶奇偶操作码
• 兼容IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构