SN74LVTH18512DGGR

描述: SN74LVTH18512 具有 18 位通用总线收发器的 3.3V ABT 扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: SN74LVTH18512DGGR
商品编号: C2653051
商品封装: TSSOP-64-6.1mm
包装方式: 编带
商品毛重: 0.001克(g)

商品参数

商品概述

LVTH18512和LVTH182512是带有18位通用总线收发器的扫描测试器件，属于可测试性集成电路系列。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，可简化复杂电路板组件的测试，可通过4线测试访问端口TAP接口实现对测试电路的扫描访问。器件专门针对3.3V Vcc工作的低电压场景设计，同时可提供兼容5V系统环境的TTL接口。正常工作模式下，器件为18位通用总线收发器，集成D型锁存器和D型触发器，支持透明、锁存或时钟模式下的数据传输，可作为两个9位收发器或一个18位收发器使用；可通过TAP激活测试电路，对器件引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自测试，正常模式下激活TAP不会影响器件的功能工作。每个方向的数据流由输出使能OEAB和OEBA、锁存使能LEAB和LEBA以及时钟CLKAB和CLKBA输入控制。测试模式下，器件正常工作被禁止，测试电路被激活，可观测和控制器件的I/O边界，按照IEEE Std 1149.1-1990规定的协议执行边界扫描测试操作。使用四个专用测试引脚观测和控制测试电路工作，分别为测试数据输入TDI、测试数据输出TDO、测试模式选择TMS和测试时钟TCK，测试电路还可实现输入并行特征分析、输出伪随机模式生成等其他测试功能，所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。内置有源总线保持电路，可将未使用或浮动的数据输入保持在有效逻辑电平。LVTH182512的B端口输出最大可提供或吸收12mA电流，内置等效25Ω串联电阻，可减少过冲和下冲。SN54LVTH18512和SN54LVTH182512的工作温度范围为-55℃至125℃，SN74LVTH18512和SN74LVTH182512的工作温度范围为-40℃至85℃，提供两种封装选项，分别为引脚中心间距0.5mm的64引脚塑料薄缩小型小轮廓DGG封装和64引脚陶瓷双平面HKC封装。串行测试信息通过符合IEEE Std 1149.1-1990标准的4线测试总线即TAP传输，测试指令、测试数据和测试控制信号都通过该串行测试总线传输，TAP控制器从测试总线提取同步TCK和状态控制TMS信号，为器件内的测试结构生成合适的片上控制信号。

商品特性

采用3.3V ABT设计，支持混合模式信号工作，可在3.3V Vcc下兼容5V输入输出电压
支持低至2.7V的未稳压电池工作
UBT通用总线收发器集成D型锁存器和D型触发器，支持透明、锁存或时钟模式工作
数据输入带有总线保持功能，无需外部上拉/下拉电阻
LVTH182512器件的B端口输出带有等效25Ω串联电阻，无需外接电阻
兼容IEEE Std 1149.1-1990测试访问端口和边界扫描架构
包含IEEE Std 1149.1-1990规定的必需指令，以及可选的CLAMP和HIGHZ指令
支持输入并行特征分析
支持输出伪随机模式生成
支持输入采样/输出翻转
支持输出二进制计数
支持器件识别
采用偶奇偶校验操作码
测试电路与TCK信号完全同步，输入数据在TCK上升沿捕获，输出数据在TCK下降沿改变，保证数据在半个TCK周期内保持有效
内置有源总线保持电路，可将未使用或浮动输入保持在有效逻辑电平

应用领域

复杂电路板组件测试
18位/9位通用总线数据传输

	属性	参数值
	商品目录	锁存器
	逻辑类型	D型锁存器
	输出类型	三态
	工作电压	2.7V~3.6V
	通道数	18
	拉电流(IOH)	32mA

	属性	参数值
	灌电流(IOL)	32mA
	传播延迟(tpd)	5.1ns
	系列	74LVTH
	工作温度	-40℃~+85℃
	建立时间	2.8ns
	保持时间	1.4ns