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AFE0256GBTD

AFE0256 用于平板数字×射线探测器的256通道模拟前端

描述: AFE0256是一款256通道模拟前端(AFE)，此器件包括256个积分器，一个用于满量程充电电平检测的可编程增益放大器(PGA)，一个具有双组的相关双采样器(CDS)，256:4模拟复用器和四个差分输出驱动器。此器件还特有四个板载14位逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)。
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: AFE0256GBTD
商品编号: C1554454
包装方式: 管装
商品毛重: 0.001克(g)

商品概述

AFE0256是一款256个通道模拟前端(AFE)，被设计成满足基于平板检测器(FPD)的数字X射线系统的要求。此器件包括256个积分器，一个用于满量程充电电平检测的可编程增益放大器(PGA)，一个具有双组的相关双采样器(CDS)，256:4模拟复用器和四个差分输出驱动器。此器件还特有四个板载14位逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)。ADC提供格式为SPI的串行数据。硬件可选积分极性可实现正或负充电荷积分，并且在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗，并且特别适合于电池供电类系统。AFE0256采用具有已知良好凸出式金属接点芯片的22mm x 5mm单格式封装。

商品特性

片上，14位模数转换器(ADC)
高性能：噪声：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC范围内的28pF传感器电容器；积分非线性：内部14位ADC的±1.25最低有效位(LSB)；最小扫描时间：正常模式：37.9µs，内部ADC 2x双像素模式：26µs，内部ADC
集成：8个可选、满量程范围：0.15pC（最小值）至3.6pC（最大值）；内置相关双采样器；针对更快数据吞吐量的2x双像素模式：两个相邻通道的平均充电；管道式积分和读取：积分期间允许数据读取
灵活性：电子和空穴积分为外部高分辨率ADC提供的模拟输出
低功耗：具有ADC时，每通道2.9mW；无ADC时，每通道2.3mW；打盹模式时，每通道0.1mW；总断电特性
适合于带载封装(TCP)或覆晶薄膜封装(COF)的22m x 5mm凸出式金属接点点芯片

应用领域

平板X射线检测器

交货周期

订货125-127个工作日

购买数量

(39个/管，最小起订量 50 个)

个

起订量：50 个39个/管

总价金额：

￥ 0.00

近期成交0单

	属性	参数值
	商品目录	模拟前端(AFE)
	分辨率	14位