SN74LVTH182504APM
SN74LVTH182504APM
- 描述
- SN74LVTH182504A 具有 20 位通用总线收发器的 3.3V ABT 扫描测试设备
- 品牌名称
- TI(德州仪器)
- 商品型号
- SN74LVTH182504APM
- 商品编号
- C1523479
- 商品封装
- LQFP-64(10x10)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.001克(g)
商品参数
参数完善中
商品概述
带20位通用总线收发器的扫描测试器件,支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描,便于复杂电路板组件测试,可通过4线测试访问端口TAP接口访问测试电路,专为3.3V Vcc低电压工作设计,具备向5V系统环境提供TTL接口的能力;正常模式下为20位通用总线收发器,结合D型锁存器和D型触发器,支持透明、锁存、时钟三种模式的数据流,测试电路可通过TAP激活,对器件引脚数据进行采样或对边界测试单元进行自检,激活TAP不会影响器件正常功能;测试模式下,器件正常工作被抑制,启用测试电路观测和控制器件的I/O边界,按照对应协议执行边界扫描测试操作;使用四个专用测试引脚TDI、TDO、TMS、TCK观测和控制测试电路运行,支持输入并行特征分析PSA、输出伪随机模式生成PRPG,所有测试和扫描操作均与TAP接口同步;内置有源总线保持电路,可将未使用或浮动的数据输入保持在有效逻辑电平;LVTH182504A的B端口输出可提供最大12mA的源电流或灌电流,内置等效25Ω串联电阻以减少过冲和下冲;器件包含多种型号,SN54LVTH18504A、SN54LVTH182504A工作温度范围为-55℃~125℃,SN74LVTH18504A、SN74LVTH182504A工作温度范围为-40℃~85℃;封装形式包括64引脚塑封薄四方扁平PM封装,中心间距0.5mm,68引脚陶瓷四方扁平HV封装,中心间距25mil
商品特性
- 采用3.3V ABT设计,支持混合模式信号工作,Vcc为3.3V,可兼容5V输入输出电压
- 支持低至2.7V的非稳压电池工作
- 通用总线收发器结合D型锁存器和D型触发器,支持透明、锁存、时钟三种工作模式
- 数据输入带有总线保持功能,无需外部上拉/下拉电阻
- LVTH182504A器件B端口输出内置等效25Ω串联电阻,无需额外外部电阻
- 兼容IEEE Std 1149.1-1990标准测试访问端口和边界扫描架构
- 支持输入并行特征分析
- 支持输出伪随机模式生成
- 支持采样输入/翻转输出
- 支持输出二进制计数
- 支持器件识别
- 支持偶奇偶校验操作码
- 内置有源总线保持电路,可将浮动或未使用输入保持在有效逻辑电平
- B端口输出可提供最大12mA的源电流或灌电流,内置串联电阻可减少过冲和下冲
- TAP控制器完全同步于TCK信号,输入数据在TCK上升沿捕获,输出数据在TCK下降沿改变,保证数据在半个TCK周期内有效
应用领域
- 复杂电路板组件测试
- 通用总线数据传输


