SN74LVTH182652APM

描述: SN74LVTH182652A 具有 18 位收发器和寄存器的 3.3V ABT 扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: SN74LVTH182652APM
商品编号: C1523508
商品封装: LQFP-64(10x10)
包装方式: 托盘
商品毛重: 0.001克(g)

商品参数

参数完善中

商品概述

该器件是带有18位总线收发器和寄存器的扫描测试器件，包含LVTH18652A和LVTH182652A两类产品，支持边界扫描标准，可通过4线测试访问端口TAP接口访问测试电路。器件设计用于3.3V VCC低电压工作，同时具备对接5V系统环境的TTL接口能力。正常模式下，可配置为两个9位收发器或一个18位收发器，可实现直接来自输入总线或内部寄存器的数据多路传输；可通过测试访问端口激活测试电路，采集器件引脚数据快照或对边界测试单元进行自检，正常模式下激活测试访问端口不会影响器件正常功能。双向数据流分别由时钟、选择、输出使能输入控制，不同控制信号对应不同工作模式。测试模式下，器件正常工作被禁止，测试电路启动，可按照标准协议执行边界扫描测试操作，使用4个专用测试引脚TDI、TDO、TMS、TCK观测控制测试电路，还可实现附加测试功能，所有测试扫描操作都与TAP接口同步。

商品特性

采用3.3V ABT设计，支持混合模式信号操作，可在3.3V VCC下兼容5V输入输出电压
支持低至2.7V的非调节电池工作
内置D型触发器和控制电路，可实现存储数据和实时数据的多路传输
数据输入端带有总线保持电路，无需外部上拉/下拉电阻
LVTH182652A器件的B端口输出内置等效25Ω串联电阻，无需额外外接电阻
兼容IEEE Std 1149.1-1990 JTAG测试访问端口和边界扫描架构
支持SCOPE指令集，包含IEEE Std 1149.1-1990要求指令以及可选CLAMP和HIGHZ指令
支持输入并行特征分析、输出伪随机模式生成、输入采样/输出翻转、输出二进制计数、器件识别、偶奇偶操作码
提供多种封装可选：64引脚塑料薄四方扁平PM封装，引脚中心间距0.5mm；68引脚陶瓷四方扁平HV封装，引脚中心间距25mil
内置有源总线保持电路，可将未使用的悬浮数据输入保持在有效逻辑电平
LVTH182652A的B端口输出可支持最高12mA的源电流或灌电流，内置25Ω串联电阻可减少信号过冲和下冲
SN54LVTH18652A、SN54LVTH182652A工作温度范围为-55℃~125℃，SN74LVTH18652A、SN74LVTH182652A工作温度范围为-40℃~85℃
数据输入功能始终开启，每个时钟输入低到高跳变时都会存储总线端子数据

应用领域

复杂电路板组装测试
18位总线数据传输与寄存场景