SN74ABT18646PM

这款带有18位总线收发器和寄存器的扫描测试器件，是德州仪器SCOPE™可测试性IC系列的成员。该器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，可简化复杂电路板组件的测试。测试电路的扫描访问通过四线测试访问端口(TAP)接口实现。正常模式下，该器件是一款18位总线收发器和寄存器，支持从输入总线直接或从内部寄存器多路传输数据。它可用作两个9位收发器，也可用作一个18位收发器。可通过TAP激活测试电路，对器件引脚上出现的数据获取快照样本，或对边界测试单元进行自检。正常模式下激活TAP不会影响SCOPE总线收发器和寄存器的功能操作。收发器功能由输出使能(OE)和方向(DIR)输入控制。当OE为低电平时，收发器激活，DIR为高电平时工作在A到B方向，DIR为低电平时工作在B到A方向。当OE为高电平时，A和B输出均处于高阻态，有效隔离两条总线。数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)和选择(SAB和SBA)输入控制。A总线上的数据在CLKAB从低到高跳变时被打入相关寄存器。当SAB为低电平时，选择实时A数据输出到B总线（透明模式）。当SAB为高电平时，选择存储的A数据输出到B总线（寄存器模式）。CLKBA和SBA输入的功能分别镜像CLKAB和SAB的功能。测试模式下，SCOPE总线收发器和寄存器的正常操作被禁止，测试电路被启用，可观测和控制器件的I/O边界。启用后，测试电路可根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。四个专用测试引脚用于观测和控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。此外，测试电路还可执行其他测试功能，例如数据输入的并行特征分析和数据输出的伪随机模式生成。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。每个I/O引脚使用两个边界扫描单元(BSC)，为测试模式提供了额外的灵活性。这允许在任一总线(A或B)独立捕获和强制测试数据。器件还包含PSA/COUNT指令，可简化存储器以及其他使用二进制计数编址方案的电路的测试。

• 属于德州仪器Widebus™系列成员
• 兼容IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口和边界扫描架构
• 包含D型触发器和控制电路，可提供存储数据和实时数据的多路传输
• 每个I/O配备两个边界扫描单元，灵活性更高
• 支持SCOPE™指令集
• 包含IEEE Std 1149.1-1990所需指令，支持可选INTEST，以及P1149.1A CLAMP和HIGHZ
• 输入支持带屏蔽选项的并行特征分析
• 输出可生成伪随机模式
• 支持采样输入/切换输出
• 输出可生成二进制计数
• 支持器件识别
• 支持偶校验操作码

• 复杂电路板组件测试
• 存储器测试
• 采用二进制计数编址方案的电路测试