SN74ABT18502PM

SN74ABT18502是一款带有18位通用总线收发器的扫描测试器件，属于德州仪器SCOPE可测试性IC家族产品。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，用于简化复杂电路板组装的测试。可通过四线测试访问端口（TAP）接口实现对测试电路的扫描访问。在正常模式下，该器件是18位通用总线收发器，集成D型锁存器和D型触发器，支持透明、锁存或时钟模式下的数据传输。该器件可作为两个9位收发器或一个18位收发器使用。测试电路可通过TAP激活，以对器件引脚上的数据获取快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE通用总线收发器的功能操作。每个方向的数据流由输出使能（OEAB和OEBA）、锁存使能（LEAB和LEBA）和时钟（CLKAB和CLKBA）输入控制。对于A到B数据流，当LEAB为高电平时，器件工作在透明模式；当LEAB为低电平时，若CLKAB保持静态低电平或高电平逻辑，则A总线数据被锁存；若LEAB为低电平，A总线数据会在CLKAB的低到高跳变沿存储。当OEAB为低电平时，B输出处于激活状态；当OEAB为高电平时，B输出处于高阻态。B到A数据流与A到B类似，仅使用OEBA、LEBA和CLKB输入。在测试模式下，SCOPE通用总线收发器的正常操作会被禁止，测试电路被启用，用于观察和控制器件的I/O边界。启用后，测试电路按照IEEE Std 1149.1-1990描述的协议执行边界扫描测试操作。四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还可执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行特征分析（PSA）、从数据输出生成伪随机图案（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。测试模式下，每个I/O引脚使用两个边界扫描单元（BSC）提供额外的灵活性，允许在任一总线（A或B）捕获并强制注入独立测试数据。器件还包含PSA/二进制计数向上（PSA/COUNT）指令，用于简化存储器以及其他采用二进制计数寻址方案的电路的测试。

• 属于Widebus家族成员
• UBT收发器集成D型锁存器和D型触发器，可工作在透明模式、锁存模式或时钟模式
• 兼容IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）测试访问端口（TAP）和边界扫描架构
• 包含D型触发器和控制电路，可实现存储数据和实时数据的多路复用传输
• 每个I/O配备两个边界扫描单元（BSC），可提供更高灵活性
• 支持SCOPE指令集
• 包含IEEE Std 1149.1-1990要求的指令、可选INTEST，以及P1149.1A CLAMP和HIGHZ指令
• 支持对输入执行带屏蔽选项的并行特征分析（PSA）
• 可从输出生成伪随机图案（PRPG）
• 支持采样输入/翻转输出（TOPSIP）
• 支持从输出生成二进制计数
• 支持器件识别功能
• 采用偶校验操作码