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CY15V102QSN-108SXI引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

CY15V102QSN-108SXI

CY15V102QSN-108SXI

商品型号
CY15V102QSN-108SXI
商品编号
C6814926
商品封装
SOIC-8​
包装方式
管装
商品毛重
0.197克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录铁电存储器(FRAM)
属性参数值
功能特性工作状态指示

商品概述

EXCELON™ Ultra CY15X102QSN是一款采用先进铁电工艺的高性能2兆位非易失性存储器。铁电随机存取存储器(F-RAM)是非易失性的,读写操作与RAM类似。它能可靠保存数据达151年,同时避免了串行闪存和其他非易失性存储器带来的复杂性、开销和系统级可靠性问题。与串行闪存不同,CY15X102QSN能以总线速度执行写操作,无写入延迟,数据在成功传输到设备后立即写入存储阵列,下一总线周期无需数据轮询即可开始。此外,与其他非易失性存储器相比,该产品具有出色的写入耐久性,能够支持10^14次读写循环,比EEPROM多1亿倍写入循环。这些特性使CY15X102QSN非常适合需要频繁或快速写入的非易失性存储器应用,如数据收集(写入循环次数可能至关重要)和要求苛刻的工业控制(串行闪存的长写入时间可能导致数据丢失)。CY15X102QSN将2兆位F-RAM与高速四路SPI(QPI)SDR和DDR接口相结合,增强了F-RAM技术的非易失性写入能力。该器件集成了只读设备ID和唯一ID功能,允许SPI总线主控确定每个部件的制造商、产品密度、产品版本和唯一ID。此外,该器件还提供一个只读唯一序列号,可用于识别电路板或系统。该器件支持片上ECC逻辑,能够检测并纠正每8字节单位数据中的1位错误,还能报告8字节单位数据中的2位错误。CY15X102QSN还支持循环冗余校验(CRC)功能,可用于检查存储阵列中存储数据的完整性。

商品特性

  • 2兆比特铁电随机存取存储器(F-RAM),逻辑组织为256K × 8
  • 耐久性达100万亿(10^14)次读写周期
  • 数据保留151年
  • 即时非易失性写入技术
  • 先进高可靠性铁电工艺
  • 单和多I/O SPI
  • 串行总线接口SPI协议
  • 支持所有SDR模式传输的SPI模式0(0,0)和模式3(1,1)
  • 支持所有DDR模式传输的SPI模式0(0,0)
  • 扩展I/O SPI协议
  • 双SPI(DPI)协议
  • 四SPI(QPI)协议
  • SPI时钟频率
  • 高达108 MHz频率的SPI SDR
  • 高达54 MHz频率的SPI DDR
  • 就地执行(XIP)用于存储器读写
  • 写保护、数据安全和数据完整性
  • 使用写保护(WP)引脚的硬件保护
  • 软件块保护
  • 嵌入式ECC和CRC以增强数据完整性
  • ECC检测并纠正1位错误。如果发生2位错误,不纠正但通过ECC状态寄存器报告
  • CRC检测原始数据的任何意外更改
  • 扩展电子签名
  • 设备ID包括制造商ID和产品ID
  • ID
  • 用户可编程序列号
  • 专用256字节特殊扇区F-RAM
  • 专用特殊扇区写入和读取
  • 内容可承受多达三次标准回流焊周期
  • 高速下的低功耗消耗
  • 108 MHz SPI SDR的典型活动电流为10 mA
  • 108 MHz QSPI SDR和54 MHz QSPI DDR的典型活动电流为16 mA
  • 典型待机电流为110 μA
  • 典型深度掉电模式电流为0.80 μA
  • 典型休眠模式电流为0.1 μA
  • 低电压操作
  • CY15V102QSN:VDD = 1.71 V 至 1.89 V
  • CY15B102QSN:VDD = 1.8 V 至 3.6 V
  • 工作温度:-40°C 至 +85°C
  • 8引脚小外形集成电路(SOIC)封装
  • 符合有害物质限制(RoHS)标准

数据手册PDF