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S25HS512TFAMHB013实物图
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S25HS512TFAMHB013

S25HS512TFAMHB013

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商品型号
S25HS512TFAMHB013
商品编号
C6215326
商品封装
SOIC-16-300mil​
包装方式
编带
商品毛重
0.747克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
接口类型SPI
存储容量512Mbit
属性参数值
工作电压1.7V~2V
工作温度-40℃~+105℃
功能特性硬件写保护;绝对写保护;ECC纠错;软件写保护;上电复位

商品特性

  • 采用45nm MirrorBit技术,每个存储阵列单元可保存2位数据
  • 页模式:地址空间由256KB页组成
  • 高配置2:地址空间由上下均等分割的32个4KB扇区和其余的256KB扇区组成
  • 256或512字节的页编程缓冲区
  • 1024字节(32×32字节)的OTP安全硅阵列
  • 支持Quad SPI,包括1S - 1S - 4S、1S - 4S - 4S、1S - 4D - 4D、4S - 4S - 4S、4S - 4D - 4D协议,SDR模式最高83Mbps(166MHz时钟速度),DDR模式最高102Mbps(102MHz时钟速度)
  • 支持Dual SPI,支持1S - 2S - 2S协议,SDR模式最高41.5Mbps(166MHz时钟速度)
  • 支持SPI,支持1S - 1S - 1S协议,SDR模式最高21Mbps(166MHz时钟速度)
  • 具备业界首个符合ISO 26262 ASIL B标准且支持ASIL D的NOR闪存安全功能
  • EnduranceFlex架构:提供高耐久性和长期数据保存能力
  • 行完整性CRC:检测存储阵列中的错误
  • 数据流程:报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复预测
  • 内置错误纠正码(ECC):执行存储阵列数据的单比特错误纠正和双比特错误检测(SECDED)
  • 擦除状态指示器,指示擦除过程中的电源丢失
  • 存储阵列和设备配置的寄存器块保护配置
  • 单个存储阵列扇区级别的高级扇区保护
  • 上电后可立即访问存储阵列
  • 支持CS#小格方式(JEDEC)/独立RESET#引脚/DQ3_RESET#引脚的硬件复位
  • 可输出描述设备功能和特性的串行闪存参数(SFDP),包括设备ID、制造商ID、固有ID
  • 256Mb设备:存储阵列最小640,000次编程/擦除循环
  • 512Mb设备:存储阵列最小1,280,000次编程/擦除循环
  • 1Gb设备:主阵列最小2,560,000次编程/擦除循环
  • 所有设备:4KB扇区最小300,000次编程/擦除循环,至少25年数据保存
  • 电源电压:1.7V ~ 2.0V(HS - T)、2.7V ~ 3.6V(HS - T)
  • 工作温度范围:工业级(-40°C ~ +85°C)、工业级闪存(-40°C ~ +105°C)、车载用AEC - Q100等级3(-40°C ~ +85°C)、车载用AEC - Q100等级2(-40°C ~ +105°C)、车载用AEC - Q100等级1(-40°C ~ +125°C)
  • 256MB和512MB封装:16引脚SOIC(300mil) - SO3016、24球BGA 6×8mm、16引脚SOIC(300mil)、8触点WSON 6×8mm
  • 1GB封装:16引脚SOIC(300mil) - SO3016、24球BGA 8×8mm、16引脚SOIC(300mil)

数据手册PDF