S25HS512TFAMHB013
S25HS512TFAMHB013
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- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S25HS512TFAMHB013
- 商品编号
- C6215326
- 商品封装
- SOIC-16-300mil
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.747克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 接口类型 | SPI | |
| 存储容量 | 512Mbit |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作电压 | 1.7V~2V | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 功能特性 | 硬件写保护;绝对写保护;ECC纠错;软件写保护;上电复位 |
商品特性
- 采用45nm MirrorBit技术,每个存储阵列单元可保存2位数据
- 页模式:地址空间由256KB页组成
- 高配置2:地址空间由上下均等分割的32个4KB扇区和其余的256KB扇区组成
- 256或512字节的页编程缓冲区
- 1024字节(32×32字节)的OTP安全硅阵列
- 支持Quad SPI,包括1S - 1S - 4S、1S - 4S - 4S、1S - 4D - 4D、4S - 4S - 4S、4S - 4D - 4D协议,SDR模式最高83Mbps(166MHz时钟速度),DDR模式最高102Mbps(102MHz时钟速度)
- 支持Dual SPI,支持1S - 2S - 2S协议,SDR模式最高41.5Mbps(166MHz时钟速度)
- 支持SPI,支持1S - 1S - 1S协议,SDR模式最高21Mbps(166MHz时钟速度)
- 具备业界首个符合ISO 26262 ASIL B标准且支持ASIL D的NOR闪存安全功能
- EnduranceFlex架构:提供高耐久性和长期数据保存能力
- 行完整性CRC:检测存储阵列中的错误
- 数据流程:报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复预测
- 内置错误纠正码(ECC):执行存储阵列数据的单比特错误纠正和双比特错误检测(SECDED)
- 擦除状态指示器,指示擦除过程中的电源丢失
- 存储阵列和设备配置的寄存器块保护配置
- 单个存储阵列扇区级别的高级扇区保护
- 上电后可立即访问存储阵列
- 支持CS#小格方式(JEDEC)/独立RESET#引脚/DQ3_RESET#引脚的硬件复位
- 可输出描述设备功能和特性的串行闪存参数(SFDP),包括设备ID、制造商ID、固有ID
- 256Mb设备:存储阵列最小640,000次编程/擦除循环
- 512Mb设备:存储阵列最小1,280,000次编程/擦除循环
- 1Gb设备:主阵列最小2,560,000次编程/擦除循环
- 所有设备:4KB扇区最小300,000次编程/擦除循环,至少25年数据保存
- 电源电压:1.7V ~ 2.0V(HS - T)、2.7V ~ 3.6V(HS - T)
- 工作温度范围:工业级(-40°C ~ +85°C)、工业级闪存(-40°C ~ +105°C)、车载用AEC - Q100等级3(-40°C ~ +85°C)、车载用AEC - Q100等级2(-40°C ~ +105°C)、车载用AEC - Q100等级1(-40°C ~ +125°C)
- 256MB和512MB封装:16引脚SOIC(300mil) - SO3016、24球BGA 6×8mm、16引脚SOIC(300mil)、8触点WSON 6×8mm
- 1GB封装:16引脚SOIC(300mil) - SO3016、24球BGA 8×8mm、16引脚SOIC(300mil)
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