S26HS01GTFPBHB030
S26HS01GTFPBHB030
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- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S26HS01GTFPBHB030
- 商品编号
- C5745943
- 商品封装
- FBGA-24(8x8)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.335克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 存储容量 | 1Gbit | |
| 工作电压 | 1.7V~2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 功能特性 | 绝对写保护;ECC纠错;上电复位 |
商品特性
- 采用英飞凌45纳米MirrorBit技术,每个存储阵列单元存储两个数据位
- 扇区架构选项:统一型(地址空间由全部256KB扇区组成);混合型(配置1:地址空间包含32个4KB扇区,位于顶部或底部,其余扇区均为256KB;配置2:地址空间包含32个4KB扇区,平均分布在顶部和底部,其余扇区均为256KB)
- 页编程缓冲区为256或512字节
- 1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域
- 支持HYPERBUS接口
- 兼容JEDEC扩展SPI标准
- DDR选项运行速率高达400MBps(200MHz时钟速度)
- 支持数据选通信号,以简化高速系统中的读取数据捕获
- 支持传统单线SPI接口
- SDR选项运行速率高达21MBps(166MHz时钟速度)
- 支持默认从传统SPI或HYPERBUS接口启动
- 功能安全特性符合ISO26262 ASIL B等级并支持ASIL D等级
- 英飞凌Endurance Flex架构提供高耐久性和长数据保持分区
- 接口CRC检测主机控制器与闪存设备之间通信接口的错误
- 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
- SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏,并提供恢复选项
- 内置错误校正码,可校正存储阵列数据的单比特错误并检测双比特错误
- 扇区擦除状态指示器,用于指示擦除过程中的电源中断
- 高级扇区保护,提供基于单个存储阵列扇区的保护
- AutoBoot支持上电后立即访问存储阵列
- 支持通过CS#信号方法以及独立的RESET#引脚进行硬件复位
- 串行闪存可发现参数,描述设备功能和特性
- 设备识别、制造商识别和识别
- 256Mb器件主阵列最小可进行640,000次编程-擦除循环
- 512Mb器件主阵列最小可进行1,280,000次编程-擦除循环
- 1Gb器件主阵列最小可进行2,560,000次编程-擦除循环
- 所有器件的4KB扇区最小可进行300,000次编程-擦除循环
- 最小25年数据保持期
- 工作电压范围:1.7V至2.0V(HS-T);2.7V至3.6V(HL-T)
- 工业级温度范围:-40℃ to +85℃
- 工业增强级温度范围:-40℃ to +105℃
- 汽车级AEC-Q100 3级温度范围:-40℃ to +85℃
- 汽车级AEC-Q100 2级温度范围:-40℃ to +105℃
- 汽车级AEC-Q100 1级温度范围:-40℃ to +125℃
- 256Mb和512Mb器件采用24球BGA封装,尺寸6×8毫米
- 1Gb器件采用24球BGA封装,尺寸8×8毫米
- S26HS01GTFPBHI030
- S26HS01GTFPBHM020
- S26HS01GTFPBHV020
- S26HS01GTGABHA033
- S26HS02GTFPBHM043
- S26HS512TGABHB013
- S26HS512TGABHI013
- S26HS512TGABHV003
- S26KS512SDPBHB023
- S28HL01GTFPBHI030
- S28HL512TFPBHM010
- S28HS02GTFPBHV050
- S28HS512TGABHB010
- S28HS512TGABHB013
- S29GL256S90FHSS40
- S29GL512T11TFIV13
- S70FS01GSDSBHI213
- S70GL02GS11FHB013
- S70GL02GT11FHI020

