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S25FL512SAGBHVD13引脚图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S25FL512SAGBHVD13

S25FL512SAGBHVD13

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商品型号
S25FL512SAGBHVD13
商品编号
C5745927
商品封装
BGA-24(6x8)​
包装方式
编带
商品毛重
0.166克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
接口类型SPI
存储容量512Mbit
工作电压2.7V~3.6V
属性参数值
页写入时间(Tpp)750us
工作温度-40℃~+105℃
功能特性硬件写保护;ECC纠错;软件写保护;上电复位

商品概述

英飞凌S25FL512S器件是一款采用MIRRORBIT技术的闪存非易失性存储器产品,该技术可在每个存储器阵列晶体管中存储两个数据位。其Eclipse架构显著提升了编程和擦除性能,并采用65纳米工艺制程。该器件通过SPI接口连接到主机系统,支持传统的SPI单比特串行输入输出(单I/O或SIO),以及可选的双比特(双I/O或DIO)和四比特(四I/O或QIO)串行命令。这种多宽度接口称为SPI多I/O或MIO。

商品特性

  • CMOS 3.0 V核心,支持多功能I/O
  • 支持SPI及多I/O
  • 密度为512 Mb (64 MB)
  • 支持SPI时钟极性与相位模式0和3
  • 支持DDR选项
  • 扩展寻址:32位地址
  • 串行命令集和封装与S25FL-A、S25FL-K和S25FL-P SPI系列兼容
  • 多I/O命令集和封装与S25FL-P SPI系列兼容
  • 读取命令:支持常规、快速、双路、四路、快速DDR、双路DDR、四路DDR
  • 自动启动:上电或复位后,在预选地址自动执行常规或四路读取命令
  • 提供用于配置信息的通用闪存接口数据
  • 编程速率1.5 MBps
  • 512字节页编程缓冲区
  • 四输入页编程,适用于低速时钟系统
  • 自动ECC:内部硬件纠错码生成,支持单比特错误纠正
  • 擦除速率0.5至0.65 MBps
  • 统一的256 KB扇区
  • 循环耐久性:最低100,000次编程-擦除周期
  • 数据保持:最低20年
  • 安全特性:1024字节一次性可编程阵列
  • 块保护:状态寄存器位控制对连续扇区范围进行编程或擦除的保护,提供硬件和软件控制选项
  • 高级扇区保护
  • 通过引导代码或密码控制单个扇区保护
  • 采用英飞凌65纳米MIRRORBIT技术及Eclipse架构
  • 核心电源电压:2.7 V至3.6 V
  • I/O电源电压:1.65 V至3.6 V
  • 提供SO16和FBGA封装
  • 温度范围:工业级-40℃至+85℃;工业增强级-40℃至+105℃;汽车级,AEC-Q100 Grade 3 -40℃至+85℃;汽车级,AEC-Q100 Grade 2 -40℃至+105℃;汽车级,AEC-Q100 Grade 1 -40℃至+125℃
  • 封装(全部无铅):16引脚SOIC (300 mil);24球BGA (6×8 mm)
  • 提供5×5球和4×6球封装选项
  • 提供已知合格芯片和已知测试芯片

数据手册PDF