商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 芯片类型 | 电压检测器 | |
| 输出类型 | 推挽 | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 阈值电压 | 1.8V | |
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | 100us | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃@(TA) |
商品概述
R3111x 系列是以 CMOS 为基础的电压检测器集成电路,具有高检测阈值精度和超低电源电流,可在极低电压下工作,例如用于系统复位。每个集成电路由电压参考单元、比较器、用于设置检测阈值的电阻、输出驱动器和迟滞电路组成。检测阈值在内部高精度固定,无需任何调整。有三种输出类型可供选择,分别是 N 沟道开漏“L”型、N 沟道开漏“H”型和 CMOS 型。R3111x 系列比 Rx5VL 系列可在更低电压下工作,并且可以由单节电池驱动。有七种封装类型可供选择,分别是 TO - 92、SOT - 89、SOT - 23 - 3、SOT - 23 - 5、SC - 82AB、SC - 88A 和 SON1612 - 6。
商品特性
- 电源电流:典型值 0.8μA(-VDET = 1.5V,VDD = -VDET - 0.1V)
- 工作电压范围:0.7V 至 10.0V(Ta = 25°C)
- 检测阈值范围:0.9V 至 6.0V(以 0.1V 为步长)
- 检测阈值精度:±2.0%
- 检测阈值的温度漂移系数:典型值 ±100ppm/°C
- 输出类型:N 沟道开漏“L”型、N 沟道开漏“H”型和 CMOS 型
- 封装类型:SON1612 - 6、SC - 82AB、SC - 88A、SOT - 23 - 3、SOT - 23 - 5、SOT - 89、TO - 92
应用领域
- CPU 和逻辑电路复位
- 电池检查器
- 窗口比较器
- 波形整形电路
- 电池备份电路
- NJU7701F06-TE1
- NJU7700F25-TE1#
- R3132Q29EA-TR-FE
- R3500S009A-E2-FE
- NJU2103BE-TE1
- RN5VD42CA-TR-FE
- R3117Q094C-TR-FE
- R3130N29EC-TR-FE
- R3118N451A-TR-FE
- R3134N30EA8-TR-FE
- R3117Q112A-TR-FE
- R3500S010A-E2-FE
- R3119N110A-TR-FE
- R3111H321A-T1-F
- R3154N203A-TR-R
- R3111Q291C-TR-FE
- R3117Q102A-TR-FE
- R3118N421C-TR-FE
- RP300N28DA-TR-FE
- R3132Q27EA-TR-FE
- R3111D401A-TR-FE
