SCANSTA111MT/NOPB

SCANSTA111将IEEE Std. 1149.1测试总线扩展到多点测试总线环境。与单个串行扫描链相比，多点方法的优势在于提高了测试吞吐量，并且能够从系统中移除一块电路板，同时仍可对其余模块进行测试访问。每个SCANSTA111最多支持3个本地IEEE 1149.1扫描环，这些扫描环可以单独访问或串行组合访问。寻址是通过向指令寄存器加载与插槽输入值匹配的值来实现的。通过“Park”指令将本地TAP控制器置于稳定的TAP控制器状态之一，可轻松完成背板和板间测试。32位TCK计数器可在对一个端口执行内置自测试操作的同时，对其他扫描链进行同步测试。

• 真正的IEEE 1149.1分层和多点可寻址能力。7个插槽输入支持多达121个唯一地址、一个询问地址、一个广播地址和4个多播组地址（地址000000保留）
• 与IEEE 1149.1兼容的可配置本地扫描端口模式寄存器0允许本地TAP被旁路、单独插入扫描链或按两个或三个一组串行插入。通过单条指令可启用透明模式，方便地将背板IEEE 1149.1引脚缓冲到单个本地扫描端口上的引脚。LSP ACTIVE输出为支持IEEE 1149.4的模拟总线提供本地端口使能信号。通用本地端口直通位可用于为FPGA编程提供写入脉冲或监控设备状态。所有本地扫描端口的TRST具有已知上电状态。32位TCK计数器。16位LFSR特征压缩器。本地TAP可通过OE输入变为三态，以便让备用测试主控器控制本地TAP（LSP₀₋₂有三态通知输出）
• 3.0 - 3.6V Vcc电源供电
• 掉电时输入和输出呈高阻抗状态
• 支持带电插拔