AFBR-S4N44P044M

博通AFBR - S4N44P044M是一个2×2硅光电倍增管（SiPM）阵列，用于单光子的超灵敏精确测量。该SiPM基于NUV - MT技术，与NUV - HD技术相比，该技术结合了更高的光电探测效率（PDE）、更低的暗计数率和更低的串扰。SiPM在两个方向上的间距均为4mm。通过拼接多个AFBR - S4N44P044M阵列，可覆盖更大面积，间距为8.3mm，且几乎没有边缘损耗。为实现良好的机械稳定性和坚固性，采用环氧透明模塑料进行封装，该材料对紫外线波长具有高透明度，从而在可见光光谱中具有广泛响应，对光谱中的蓝色和近紫外区域具有高灵敏度。该阵列最适合检测低水平脉冲光源，尤其适用于检测最常见的有机（塑料）和无机闪烁体材料（例如LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、LaBr₃等）发出的切伦科夫光或闪烁光。该产品无铅且符合RoHS标准。

• 2×2 SiPM阵列
• 阵列尺寸：8.26mm×8.26mm
• 在420nm⊥处具有63%的高PDE
• 出色的单光子时间分辨率（SPTR）和串扰分辨率（CRT）
• 击穿电压均匀性极佳
• 增益均匀性极佳
• 四边可拼接，填充因子高
• 单元间距：40μm
• 高度透明的环氧保护层
• 工作温度范围：-20°C ~ +50°C
• 符合RoHS、CFM和REACH标准

X射线和伽马射线检测、核医学、正电子发射断层扫描、安全与安保、物理实验、切伦科夫光检测