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AFBR-S4N66P014M实物图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

AFBR-S4N66P014M

AFBR-S4N66P014M

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品牌名称
Broadcom(博通)
商品型号
AFBR-S4N66P014M
商品编号
C20276858
包装方式
袋装
商品毛重
1克(g)

商品参数

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参数完善中

商品概述

博通AFBR - S4N66P014M是单通道硅光电倍增管(SiPM),用于单光子的超灵敏精确测量。该SiPM基于NUV - MT技术,与NUV - HD技术相比,结合了更高的光探测效率(PDE)、更低的暗计数率和更低的串扰。单光子雪崩二极管(SPAD)间距为40μm。 通过拼接多个AFBR - S4N66P014M SiPM可覆盖更大区域。采用环氧透明模塑料封装,具有良好的机械稳定性和坚固性,该封装材料对紫外线波长具有高透明度,在可见光光谱中具有广泛响应,对光谱中的蓝色和近紫外线区域具有高灵敏度。该SiPM最适合检测低水平脉冲光源,尤其适用于检测最常见的有机(塑料)和无机闪烁体材料(例如,LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、LaBr₃等)发出的切伦科夫光或闪烁光。本产品无铅且符合RoHS标准。

商品特性

  • 420nm波长处具有63%的高光探测效率(PDE)
  • 四边可拼接,具有高填充因子
  • 单元间距:40μm
  • 高透明环氧保护层
  • 工作温度范围:-20°C ~ +60°C
  • 出色的单光子时间分辨率(SPTR)和串扰分辨率(CRT)
  • 器件间击穿电压和增益具有出色的均匀性
  • 符合RoHS、CFM和REACH标准

应用领域

  • X射线和伽马射线检测
  • 核医学
  • 正电子发射断层扫描
  • 安全与保障
  • 物理实验
  • 切伦科夫光检测

数据手册PDF