M40SZ100WMQ6F
3V非易失性RAM监控器
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- 描述
- LPSRAM的3 V NVRAM监控器
- 品牌名称
- ST(意法半导体)
- 商品型号
- M40SZ100WMQ6F
- 商品编号
- C2066125
- 商品封装
- SO-16
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.95克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 芯片类型 | 电压监控器 | |
| 输出类型 | 开漏 | |
| 工作电压 | 2.7V~3.6V | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 | |
| 阈值电压 | 2.6V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | 40ms | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃@(TA) | |
| 功能特性 | 手动复位输入 | |
| 静态电流(Iq) | 500uA |
商品概述
M40SZ100W NVRAM控制器是一款独立设备,可将标准低功耗SRAM转换为非易失性存储器。其内置精密电压基准和比较器,用于监控V_CC输入是否超出公差范围。当VCC出现无效情况时,经调节的芯片使能输出(E_CON)会被强制为无效状态,以写保护SRAM中存储的数据。在电源故障期间,SRAM会从V_CC引脚切换到外部电池,以提供数据保持所需的能量。在后续上电时,SRAM会保持写保护状态,直到电源条件恢复正常。M40SZ100W可控制一个(若并联放置则为两个)标准低功耗SRAM,该SRAM需配置为芯片使能输入可禁用所有其他输入信号。正常工作条件下,经调节的芯片使能(E_CON)输出引脚跟随芯片使能(E)输入引脚,内部开关将V_CC连接到V_OUT,电压降小于0.3V(IOUT1)。电源故障导致V_CC下降时,E_CON会独立于E被强制为无效状态,在V_CC低于V_PFD时写保护SRAM。若芯片使能访问在掉电检测期间进行,内存周期会完成后再写保护;若未在t_WPT内终止,E_CON会被强制为高电平。写周期期间的电源故障可能损坏当前地址数据,但不影响其余内容。在V_PFD(最小值)以下,若V_CC下降时间不超过tF,内存会在t_WPT内写保护。V_CC进一步下降时,内部开关会在V_SO处断开V_CC并连接内部电池到V_OUT,电池提供V_OHB电压和I_OUT2电流。V_CC上升至V_SO以上时,V_OUT切换回电源电压,E_CON在电源达V_PFD后保持无效最长120ms以允许处理器稳定。
商品特性
- 将低功耗SRAM转换为NVRAM
- 3V工作电压
- 精密电源监控和电源切换电路
- V_CC超出公差范围时自动写保护
- 可选电源电压和掉电取消选择电压:V_CC=2.7至3.6V;2.55V ≤V_PFD ≤2.70V
- 用于上电复位的复位输出(RST)
- 1.25V参考电压(适用于PFI/PFO)
- 芯片使能访问传播延迟小于15ns
- 电池低电量引脚(BL)
- 符合RoHS标准——无铅二级互连



