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AS4C128M8D2A-25BINTR实物图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

AS4C128M8D2A-25BINTR

128M x 8 bit DDRII同步动态随机存取存储器

SMT扩展库PCB免费打样
私有库下单最高享92折
品牌名称
Alliance Memory
商品型号
AS4C128M8D2A-25BINTR
商品编号
C17595917
商品封装
FBGA-60(8x10)​
包装方式
编带
商品毛重
0.366克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录DDR SDRAM
存储器构架(格式)DDR2 SDRAM
时钟频率(fc)400MHz
存储容量1Gbit
工作电压1.7V~1.9V
属性参数值
工作电流-
刷新电流-
工作温度-40℃~+95℃
功能特性自动预充电功能;动态片上端接;数据掩码功能

商品概述

AS4C128M8D2A是一款高速CMOS双数据速率二代(DDR2)同步动态随机存取存储器(SDRAM),具有1024 Mbit容量,采用8位宽数据输入/输出接口。其内部配置为8个存储体的DRAM,即8个存储体×16Mb地址×8个输入/输出接口。该器件设计符合DDR2 DRAM的关键特性,如带附加延迟的后置列地址选通(CAS#)、写延迟 = 读延迟 - 1、片外驱动器(OCD)阻抗调整和片上终端(ODT)。所有控制和地址输入与一对外部提供的差分时钟同步。输入在差分时钟的交叉点(CK上升沿和CK#下降沿)锁存。所有输入/输出接口与一对双向选通信号(DQS和DQS#)以源同步方式同步。地址总线用于以行地址选通(RAS#)、列地址选通(CAS#)复用方式传输行、列和存储体地址信息。访问从激活存储体命令的注册开始,随后是读或写命令。对DDR2 SDRAM的读写访问以4位或8位突发方式进行;访问从选定位置开始,并按编程顺序持续进行编程数量的位置。以交错方式操作8个存储体可实现比标准DRAM更高的随机访问速率。可启用自动预充电功能,以在突发序列结束时启动自定时行预充电。根据突发长度、列地址选通延迟和器件速度等级,可实现连续无间隙的数据速率。在正常操作之前,DDR2 SDRAM必须进行初始化。以下部分提供了有关器件初始化、寄存器定义、命令描述和器件操作的详细信息。DDR2 SDRAM必须以预定义的方式上电和初始化。未按指定的操作程序可能导致未定义的操作。上电和初始化需要以下顺序:1. 施加电源,并尝试将时钟使能(CKE)保持在0.2×VDDQ以下,且片上终端(ODT)处于低电平状态(所有其他输入可以是未定义的)。VDD电压斜坡时间从VDD从300mV上升到VDD最小值时起不得超过200ms;并且在VDD电压斜坡期间,|VDD - VDDQ| ≤ 0.3V。VDD、VDDL和VDDQ由单个电源转换器输出驱动;VTT限制在最大0.95V;VREF跟踪VDDQ / 2。或者,在施加VDD的同时或之前施加VDD。

商品特性

  • 符合JEDEC标准
  • JEDEC标准1.8V输入/输出接口(与SSTL_18兼容)
  • 电源:VDD和VDDQ = +1.8V ± 0.1V
  • 工作温度:TC = 0 ~ 85°C(商业级);TC = -40 ~ 95°C(工业级)
  • 支持JEDEC时钟抖动规范
  • 完全同步操作
  • 快速时钟速率:400MHz
  • 差分时钟,CK和CK#
  • 双向单/差分数据选通
  • 8个内部存储体用于并发操作
  • 4位预取架构
  • 内部流水线架构
  • 预充电和主动掉电
  • 可编程模式和扩展模式寄存器
  • 后置列地址选通(CAS#)附加延迟(AL):0、1、2、3、4、5、6
  • 写延迟 = 读延迟 - 1个时钟周期(tCK)
  • 突发长度:4或8
  • 突发类型:顺序/交错
  • 延迟锁定环(DLL)启用/禁用
  • 片外驱动器(OCD)
  • 阻抗调整
  • 可调数据输出驱动强度
  • 片上终端(ODT)
  • 符合RoHS标准
  • 自动刷新和自刷新
  • 每64ms 8192个刷新周期
  • 平均刷新周期:7.8μs(-40°C ≤ TC ≤ +85°C);3.9μs(+85°C < TC ≤ +95°C)
  • 60球8×10×1.2mm(最大)细间距球栅阵列(FBGA)封装
  • 无铅和无卤素

数据手册PDF