SN74ABTH18504APM

描述: SN74ABTH18504A 具有 20 位通用总线收发器的扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: SN74ABTH18504APM
商品编号: C1523436
商品封装: LQFP-64(10x10)
包装方式: 托盘
商品毛重: 0.001克(g)

商品参数

商品概述

ABTH18504A和ABTH182504A是带有20位通用总线收发器的扫描测试器件，属于德州仪器SCOPE™可测试性集成电路系列。该系列器件支持IEEE Standard 1149.1-1990边界扫描，用于简化复杂电路板组件的测试。测试电路的扫描访问通过4线测试访问端口（TAP）接口实现。在正常模式下，这些器件是20位通用总线收发器，结合了D型锁存器和D型触发器，允许数据在透明、锁存或时钟模式下传输。测试电路可通过TAP激活，对器件引脚处出现的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。正常模式下激活TAP不会影响SCOPE™通用总线收发器的功能操作。各个方向的数据流由输出使能（OEAB和OEBA）、锁存使能（LEAB和LEBA）、时钟使能（CLKENAB和CLKENBA）和时钟（CLKAB和CLKBA）输入控制。对于A到B数据传输，LEAB为高时器件工作在透明模式。LEAB为低，CLKENAB为高且/或CLKAB保持静态低电平或高电平时，A总线数据被锁存。若LEAB为低且CLKENAB为低，A总线数据在CLKAB的低到高跳变时存储。OEAB为低时B输出激活，OEAB为高时B输出处于高阻态。B到A数据流与A到B类似，仅使用OEBA、LEBA、CLKENBA和CLKBA输入。测试模式下，SCOPE™通用总线收发器的正常操作被禁止，测试电路被启用以观察和控制器件的I/O边界。启用后，测试电路按照IEEE Standard 1149.1-1990描述的协议执行边界扫描测试操作。四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还可执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行特征分析（PSA），从输出生成伪随机模式（PRPG）。

商品特性

属于德州仪器SCOPE™可测试性产品家族
属于德州仪器Widebus™产品家族成员
兼容IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口和边界扫描架构
UBT™ (Universal Bus Transceiver) 结合D型锁存器和D型触发器，可工作在透明、锁存或时钟模式
数据输入带有总线保持，无需外部上拉电阻
ABTH182504A器件的B端口输出内置等效25-Ω串联电阻，因此无需外部电阻
采用EPIC-IIB™ BiCMOS设计
每个I/O采用一个边界扫描单元架构，提高扫描效率
支持SCOPE™指令集
包含IEEE Standard 1149.1-1990要求的指令，以及可选的CLAMP和HIGHZ指令
输入支持并行特征分析
输出可生成伪随机模式
可采样输入/翻转输出
输出可生成二进制计数
支持器件识别
偶校验操作码
提供两种封装:间距0.5mm的64引脚塑料薄型四方扁平（PM）封装，以及间距25-mil的68引脚陶瓷四方扁平（HV）封装

	属性	参数值
	商品目录	锁存器
	逻辑类型	D型锁存器
	输出类型	三态
	工作电压	4.5V~5.5V
	通道数	20
	拉电流(IOH)	-32mA
	灌电流(IOL)	64mA

	属性	参数值
	传播延迟(tpd)	3.1ns
	系列	ABT
	工作温度	-40℃~+85℃
	建立时间	3.5ns
	保持时间	0.5ns
	静态电流(Iq)	-