S26HS01GTGABHM033
S26HS01GTGABHM033
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- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S26HS01GTGABHM033
- 商品编号
- C7354863
- 商品封装
- FBGA-24(8x8)
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.166克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 存储容量 | 1Gbit | |
| 工作电压 | 1.7V~2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+125℃ | |
| 功能特性 | ECC纠错;上电复位 |
商品概述
赛普拉斯Semper™闪存系列产品是高速CMOS、MirrorBit NOR闪存设备,符合JEDEC JESD251扩展SPI(xSPI)规范。Semper闪存专为功能安全而设计,按照ISO 26262标准开发,以实现ASIL - B合规性和ASIL - D就绪性。带有HyperBus接口的Semper闪存设备支持HyperBus接口以及传统(x1)SPI。两个接口都以串行方式传输事务,减少了接口连接信号的数量。SPI支持SDR,而HyperBus支持DDR。HyperBus接口(DDR)在数据(DQ)信号上每个时钟周期传输两个数据字节。对Semper闪存的读写操作是面向突发的。
商品特性
- 采用赛普拉斯45纳米MirrorBit®技术,每个存储阵列单元存储两位数据
- 有统一和混合两种扇区架构选项
- 具有256或512字节的页面编程缓冲区
- 有1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域(SSR)
- 支持HyperBus™接口和传统(x1)SPI,符合JEDEC扩展SPI(JESD251)规范
- 功能安全方面,是行业首个符合ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的NOR闪存
- EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区
- 接口CRC检测主机控制器和Semper™闪存设备之间通信接口的错误
- 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
- SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复选项
- 内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED)
- 有扇区擦除状态指示器,用于擦除期间的掉电情况
- 提供基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护
- AutoBoot使上电后可立即访问存储阵列
- 通过CS#信号方法(JEDEC)和单个RESET#引脚进行硬件复位
- 具有描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数(SFDP)
- 具备设备标识、制造商标识和唯一标识
- 不同容量设备的主阵列有不同的最小编程 - 擦除周期数
- 4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期数为300,000次
- 数据保留时间至少25年
- 供电电压为1.7 - 2.0 V(HS - T)和2.7 - 3.6 V(HL - T)
- 有工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 3级(-40°C至+85°C)、汽车AEC - Q100 2级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 1级(-40°C至+125°C)等温度范围
- 256 Mb和512 Mb采用24球BGA 6×8 mm封装,1 Gb采用24球BGA 8×8 mm封装
- S26HS01GTGABHV023
- S26HS01GTGABHV033
- S26HS512TGABHV000
- S26HS512TGABHV013
- S-13R1G38-N4T1U3
- S-13R1H22-M5T1U3
- S-13R1H26-I4T1U3
- S-13R1H27-M5T1U3
- S-13R1H33-I4T1U3
- S-13R1H33-N4T1U3
- S-13R1H34-N4T1U3
- S-13R1H40-I4T1U3
- S-13R1H40-N4T1U3
- S270J25SL0N65J5R
- S-1411J45-K8T2U4
- S-1711A1528-M6T1G
- S270K25SL0N63L6R
- S-1711A1528-M6T1U
- S-1711A1818-I6T1U
- S286-V05
- S-1711A2332-I6T1U
