S26HS512TGABHB010
S26HS512TGABHB010
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- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S26HS512TGABHB010
- 商品编号
- C6288945
- 商品封装
- FBGA-24(6x8)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.335克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 存储容量 | 512Mbit | |
| 工作电压 | 1.7V~2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 功能特性 | ECC纠错;上电复位 |
商品概述
赛普拉斯Semper™闪存系列产品是高速CMOS、MirrorBit NOR闪存设备,符合JEDEC JESD251扩展SPI(xSPI)规范。Semper闪存专为功能安全而设计,按照ISO 26262标准进行开发,以实现ASIL - B合规性和ASIL - D就绪性。带有HyperBus接口的Semper闪存设备支持HyperBus接口以及传统(x1)SPI。两个接口都以串行方式传输事务,减少了接口连接信号的数量。SPI支持SDR,而HyperBus支持DDR。HyperBus接口(DDR)在数据(DQ)信号上每个时钟周期传输两个数据字节。读或编程/写访问包括在内部HyperFlash内核上进行一系列16位宽、一个时钟周期的数据传输,以及在DQ信号上进行两个相应的8位宽、半个时钟周期的数据传输。数据和命令/地址信息都以DDR方式通过8位数据总线传输。时钟输入信号用于Semper闪存在DQ信号上接收命令/地址/数据信息时进行信号捕获。读数据选通(DS)是Semper闪存的一个输出,用于指示数据何时从……
商品特性
- 采用赛普拉斯45纳米MirrorBit®技术,每个存储阵列单元存储两位数据
- 有统一和混合两种扇区架构选项
- 页面编程缓冲区为256或512字节
- 有1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区(SSR)
- 采用HyperBus™接口,符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准,DDR选项最高运行速度达400 MBps(200 MHz时钟速度),支持数据选通(DS)
- 传统(x1)SPI符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准,SDR选项最高运行速度达21 MBps(166 MHz时钟速度)
- 支持在传统SPI(x1)或HyperBus接口(x8)下默认启动
- 具备功能安全特性,是行业首个符合ISO26262 ASIL B标准且为ASIL D做好准备的NOR闪存
- EnduraFlex™架构提供高耐久性和长保留分区
- 接口CRC检测主机控制器和Semper™闪存设备之间通信接口上的错误
- 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
- SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复选项
- 内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED)
- 扇区擦除状态指示器用于擦除过程中的掉电情况
- 具有高级扇区保护功能,可对单个存储阵列扇区进行保护
- AutoBoot使上电后可立即访问存储阵列
- 通过CS#信号方法(JEDEC)和单个RESET#引脚进行硬件复位
- 具有描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数(SFDP)
- 具备设备标识、制造商标识和唯一标识
- 256 Mb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为640,000次
- 512 Mb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为1,280,000次
- 1 Gb设备主阵列的最小编程 - 擦除周期为2,560,000次
- 所有设备4 KB扇区的最小编程 - 擦除周期为300,000次
- 所有设备的数据保留时间至少为25年
- 供电电压为1.7 - 2.0 V(HS - T)和2.7 - 3.6 V(HL - T)
- 有工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 3级(-40°C至+85°C)、汽车AEC - Q100 2级(-40°C至+105°C)、汽车AEC - Q100 1级(-40°C至+125°C)等温度范围
- 256 Mb和512 Mb采用24球BGA 6×8 mm封装,1 Gb采用24球BGA 8×8 mm封装
