S26HS01GTGABHV030
S26HS01GTGABHV030
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- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S26HS01GTGABHV030
- 商品编号
- C5904943
- 商品封装
- FBGA-24(8x8)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.335克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 存储容量 | 1Gbit | |
| 工作电压 | 1.7V~2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 功能特性 | ECC纠错;上电复位 |
商品特性
- 采用45纳米存储技术,每个存储阵列单元可存储两位数据
- 提供统一和混合两种扇区架构选项,混合架构包含特定数量的4KB扇区和256KB扇区
- 具备256或512字节的页编程缓冲区
- 提供1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域
- 接口符合JEDEC扩展SPI标准,支持高速DDR模式(最高400MBps)和传统SPI模式(最高21MBps)
- 支持默认从传统SPI或HYPERBUS接口启动
- 功能安全特性符合ISO26262标准,支持ASIL B等级并具备ASIL D能力
- 提供高耐久度和长数据保持分区
- 接口CRC用于检测主机控制器与设备之间的通信错误
- 数据完整性CRC用于检测存储阵列中的错误
- 提供启动故障报告、配置损坏检测及恢复选项
- 内置错误校正码,可纠正存储阵列数据的单位错误并检测双位错误
- 提供擦除过程中电源掉电的扇区擦除状态指示
- 支持基于单个存储阵列扇区的保护功能
- 上电后可立即访问存储阵列
- 支持通过CS#信号方法和独立RESET#引脚进行硬件复位
- 提供描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数
- 256Mb器件主阵列的最小编程擦除周期为640,000次
- 512Mb器件主阵列的最小编程擦除周期为1,280,000次
- 1Gb器件主阵列的最小编程擦除周期为2,560,000次
- 所有器件4KB扇区的最小编程擦除周期为300,000次
- 所有器件的最小数据保持时间为25年
- 工作电压范围:1.7V至2.0V(HS-T)或2.7V至3.6V(HL-T)
- 提供多种工业级和汽车级温度范围,从-40℃至+125℃
- 256Mb和512Mb器件采用24球BGA,尺寸为6×8毫米
- 1Gb器件采用24球BGA,尺寸为8×8毫米

