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S26HS01GTGABHV030引脚图
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  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S26HS01GTGABHV030

S26HS01GTGABHV030

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商品型号
S26HS01GTGABHV030
商品编号
C5904943
商品封装
FBGA-24(8x8)​
包装方式
托盘
商品毛重
0.335克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量1Gbit
工作电压1.7V~2V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+105℃
功能特性ECC纠错;上电复位

商品特性

  • 采用45纳米存储技术,每个存储阵列单元可存储两位数据
  • 提供统一和混合两种扇区架构选项,混合架构包含特定数量的4KB扇区和256KB扇区
  • 具备256或512字节的页编程缓冲区
  • 提供1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域
  • 接口符合JEDEC扩展SPI标准,支持高速DDR模式(最高400MBps)和传统SPI模式(最高21MBps)
  • 支持默认从传统SPI或HYPERBUS接口启动
  • 功能安全特性符合ISO26262标准,支持ASIL B等级并具备ASIL D能力
  • 提供高耐久度和长数据保持分区
  • 接口CRC用于检测主机控制器与设备之间的通信错误
  • 数据完整性CRC用于检测存储阵列中的错误
  • 提供启动故障报告、配置损坏检测及恢复选项
  • 内置错误校正码,可纠正存储阵列数据的单位错误并检测双位错误
  • 提供擦除过程中电源掉电的扇区擦除状态指示
  • 支持基于单个存储阵列扇区的保护功能
  • 上电后可立即访问存储阵列
  • 支持通过CS#信号方法和独立RESET#引脚进行硬件复位
  • 提供描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数
  • 256Mb器件主阵列的最小编程擦除周期为640,000次
  • 512Mb器件主阵列的最小编程擦除周期为1,280,000次
  • 1Gb器件主阵列的最小编程擦除周期为2,560,000次
  • 所有器件4KB扇区的最小编程擦除周期为300,000次
  • 所有器件的最小数据保持时间为25年
  • 工作电压范围:1.7V至2.0V(HS-T)或2.7V至3.6V(HL-T)
  • 提供多种工业级和汽车级温度范围,从-40℃至+125℃
  • 256Mb和512Mb器件采用24球BGA,尺寸为6×8毫米
  • 1Gb器件采用24球BGA,尺寸为8×8毫米

数据手册PDF