S26HL512TFPBHM010
S26HL512TFPBHM010
- 品牌名称
- Infineon(英飞凌)
- 商品型号
- S26HL512TFPBHM010
- 商品编号
- C5885180
- 商品封装
- FBGA-24(6x8)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.335克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 存储容量 | 512Mbit | |
| 工作电压 | 2.7V~3.6V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 1.7ms | |
| 工作温度 | -40℃~+125℃ | |
| 功能特性 | 绝对写保护;ECC纠错;上电复位 |
商品特性
- 45纳米MIRRORBIT技术,每个存储阵列单元存储两个数据位
- 扇区架构选项:统一架构(地址空间由全部256KB扇区组成)和混合架构(配置1:地址空间由三十二个4KB扇区组成,位于顶部或底部,其余扇区均为256KB;配置2:地址空间由三十二个4KB扇区组成,在顶部和底部平均分配,其余扇区均为256KB)
- 页编程缓冲区为256或512字节
- 1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域
- HYPERBUS接口:兼容JEDEC扩展SPI标准;DDR选项运行速率高达400MBps(200MHz时钟速度);支持数据选通以简化高速系统中的读取数据捕获
- 传统(x1)SPI接口:兼容JEDEC扩展SPI标准;SDR选项运行速率高达21MBps(166MHz时钟速度)
- 支持默认启动模式为传统SPI(x1)或HYPERBUS接口(x8)
- 功能安全特性:符合ISO26262 ASIL B标准并准备支持ASIL D;提供高耐久性和长保持分区;接口CRC检测主机控制器与设备之间的通信错误;数据完整性CRC检测存储阵列错误;安全启动报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项;内置错误校正码纠正存储阵列数据的单比特错误并检测双比特错误;扇区擦除状态指示器用于擦除期间断电情况
- 保护特性:基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护;上电后立即访问存储阵列的自动启动功能;通过CS#信号方法(JEDEC)和独立RESET#引脚进行硬件复位;描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数;设备标识、制造商标识和标识
- 数据完整性:256Mb器件主阵列最小640,000次编程-擦除周期;512Mb器件主阵列最小1,280,000次编程-擦除周期;1Gb器件主阵列最小2,560,000次编程-擦除周期;所有器件4KB扇区最小300,000次编程-擦除周期;最小25年数据保持时间
- 供电电压:1.7V至2.0V(HS-T)和2.7V至3.6V(HL-T)
- 等级/温度范围:工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC-Q100等级3(-40°C至+85°C)、汽车AEC-Q100等级2(-40°C至+105°C)、汽车AEC-Q100等级1(-40°C至+125°C)
- 封装:256Mb和512Mb器件采用24球BGA 6×8毫米封装;1Gb器件采用24球BGA 8×8毫米封装
- S26HL512TFPBHM013
- S26HS01GTFPBHB033
- S26HS01GTGABHI023
- S26HS02GTFPBHM050
- S28HS02GTFPBHM050
- S29AL016J70FFM020
- S29GL512S10FHI013
- S270J25SL0N6TJ5R
- 2GA91-68/POLY
- S27S300D15Y
- S285-V05
- S287-03
- 2GB51-73
- S28AWF
- 2GB51-D-2B-B
- S29GL032N90DFI020A
- S29GL128N90TFAR20
- S29GL256N11FAA023
- S29GL256P90FFCR10A
- S29GL256S11TFVV10
- S29GL512S11DHV020A

