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S26HL512TFPBHM010引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S26HL512TFPBHM010

S26HL512TFPBHM010

商品型号
S26HL512TFPBHM010
商品编号
C5885180
商品封装
FBGA-24(6x8)​
包装方式
托盘
商品毛重
0.335克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量512Mbit
工作电压2.7V~3.6V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+125℃
功能特性绝对写保护;ECC纠错;上电复位

商品特性

  • 45纳米MIRRORBIT技术,每个存储阵列单元存储两个数据位
  • 扇区架构选项:统一架构(地址空间由全部256KB扇区组成)和混合架构(配置1:地址空间由三十二个4KB扇区组成,位于顶部或底部,其余扇区均为256KB;配置2:地址空间由三十二个4KB扇区组成,在顶部和底部平均分配,其余扇区均为256KB)
  • 页编程缓冲区为256或512字节
  • 1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域
  • HYPERBUS接口:兼容JEDEC扩展SPI标准;DDR选项运行速率高达400MBps(200MHz时钟速度);支持数据选通以简化高速系统中的读取数据捕获
  • 传统(x1)SPI接口:兼容JEDEC扩展SPI标准;SDR选项运行速率高达21MBps(166MHz时钟速度)
  • 支持默认启动模式为传统SPI(x1)或HYPERBUS接口(x8)
  • 功能安全特性:符合ISO26262 ASIL B标准并准备支持ASIL D;提供高耐久性和长保持分区;接口CRC检测主机控制器与设备之间的通信错误;数据完整性CRC检测存储阵列错误;安全启动报告设备初始化失败、检测配置损坏并提供恢复选项;内置错误校正码纠正存储阵列数据的单比特错误并检测双比特错误;扇区擦除状态指示器用于擦除期间断电情况
  • 保护特性:基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护;上电后立即访问存储阵列的自动启动功能;通过CS#信号方法(JEDEC)和独立RESET#引脚进行硬件复位;描述设备功能和特性的串行闪存可发现参数;设备标识、制造商标识和标识
  • 数据完整性:256Mb器件主阵列最小640,000次编程-擦除周期;512Mb器件主阵列最小1,280,000次编程-擦除周期;1Gb器件主阵列最小2,560,000次编程-擦除周期;所有器件4KB扇区最小300,000次编程-擦除周期;最小25年数据保持时间
  • 供电电压:1.7V至2.0V(HS-T)和2.7V至3.6V(HL-T)
  • 等级/温度范围:工业级(-40°C至+85°C)、工业增强级(-40°C至+105°C)、汽车AEC-Q100等级3(-40°C至+85°C)、汽车AEC-Q100等级2(-40°C至+105°C)、汽车AEC-Q100等级1(-40°C至+125°C)
  • 封装:256Mb和512Mb器件采用24球BGA 6×8毫米封装;1Gb器件采用24球BGA 8×8毫米封装

数据手册PDF