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S26HS01GTGABHI023实物图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S26HS01GTGABHI023

S26HS01GTGABHI023

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商品型号
S26HS01GTGABHI023
商品编号
C5885186
商品封装
FBGA-24(8x8)​
包装方式
编带
商品毛重
0.166克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量1Gbit
工作电压1.7V~2V
属性参数值
页写入时间(Tpp)1.7ms
工作温度-40℃~+85℃
功能特性ECC纠错;上电复位

商品特性

  • 采用赛普拉斯(CYPRESS™)45纳米MIRRORBIT™技术,每个存储阵列单元可存储两位数据
  • 扇区架构选项:
    • 统一架构:地址空间由全256KB扇区组成
    • 混合架构:
      • 配置1:地址空间包含32个4KB扇区,集中在顶部或底部,其余为256KB扇区
      • 配置2:地址空间包含32个4KB扇区,平均分布在顶部和底部,其余为256KB扇区
  • 256或512字节的页面编程缓冲区
  • 1024字节(32×32字节)的一次性可编程安全硅区域(SSR)
  • 支持HYPERBUS™接口
  • 符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准
  • DDR选项最高运行速度达400MBps(时钟速度200MHz)
  • 支持数据选通(DS),简化高速系统中的读数据捕获
  • 支持传统(x1)SPI(1S - 1S - 1S)
  • 符合JEDEC扩展SPI(JESD251)标准
  • SDR选项最高运行速度达21MBps(时钟速度166MHz)
  • 带HYPERBUSTM接口的SEMPER™闪存设备支持在传统SPI(x1)或HYPERBUSTM接口(x8)下默认启动
  • 功能安全特性:
    • 符合功能安全ISO26262 ASIL B标准,具备ASIL D就绪能力
    • 英飞凌(Infineon®)耐用灵活架构提供高耐用性和长数据保留分区
    • 接口CRC检测主机控制器与SEMPER™闪存设备之间通信接口的错误
    • 数据完整性CRC检测存储阵列中的错误
    • SafeBoot报告设备初始化失败,检测配置损坏并提供恢复选项
    • 内置纠错码(ECC)纠正存储阵列数据中的单比特错误并检测双比特错误(SECDED)
    • 扇区擦除状态指示器,用于擦除过程中的掉电情况
  • 保护特性:
    • 基于单个存储阵列扇区的高级扇区保护
    • 自动启动(AutoBoot)功能,上电后可立即访问存储阵列
    • 通过CS#信号方法(JEDEC)和独立的RESET#引脚进行硬件复位
    • 串行闪存可发现参数(SFDP)描述设备功能和特性
    • 设备识别、制造商识别和唯一识别
    • 数据完整性:
      • 256Mb设备:主阵列的最小编程 - 擦除周期为640,000次
      • 512Mb设备:主阵列的最小编程 - 擦除周期为1,280,000次
      • 1Gb设备:主阵列的最小编程 - 擦除周期为2,560,000次
      • 所有设备:4KB扇区的最小编程 - 擦除周期为300,000次,数据保留时间至少25年
  • 电源电压:
    • 1.7V至2.0V(HS - T)
    • 2.7V至3.6V(HL - T)
  • 等级/温度范围:
    • 工业级(-40°C至+85°C)
    • 增强工业级(-40°C至+105°C)
    • 汽车AEC - Q100 3级(-40°C至+85°C)
    • 汽车AEC - Q100 2级(-40°C至+105°C)
    • 汽车AEC - Q100 1级(-40°C至+125°C)
  • 封装:
    • 256Mb和512Mb:24球BGA 6×8mm
    • 1Gb:24球BGA 8×8mm

数据手册PDF