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AD4853BBCZ

缓冲式4通道同时采样数据采集系统,具有差分宽共模范围输入

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品牌名称
ADI(亚德诺)
商品型号
AD4853BBCZ
商品编号
C42945903
商品封装
BGA-64(7x7)​
包装方式
托盘
商品毛重
2.6克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录模数转换芯片ADC
分辨率(位)16
采样率1MHz
通道数4
工作电压4.75V~5.25V
接口类型LVDS;SPI
差分输入
积分非线性-
工作温度-40℃~+125℃
属性参数值
信噪比94.6dB
时钟/振荡器-
时钟频率(fc)-
基准电压源内置;外置
可变增益支持
ADC架构-
静态电流-
功能特性输入缓冲器;双极性输入;同步采样
微分非线性0.2LSB

商品概述

AD4853 是一款完全缓冲、4通道同步采样、16位、1MSPS 的数据采集系统,具有差分、宽共模范围输入。该器件采用5V低电压电源供电,具有灵活的输入缓冲器电源,并使用精密低漂移内部基准电压源和基准缓冲器,允许每个通道的软量程范围独立配置,以匹配应用信号摆幅,从而最大限度地减少额外的外部信号调理。为了进一步最大化单次转换动态范围,AD4853 集成了无缝高动态范围技术。启用后,通道的输入信号路径增益会在逐个采样的基础上自动优化,从而最大限度地减少每个采样上的转换器噪声,同时不影响线性度。AD4853 具有11MHz带宽、皮安级输入模拟缓冲器、宽输入共模范围和120dB共模抑制比,允许 DAS 直接数字化在 INx+ 和 INx- 上具有任意摆幅的输入信号。其输入信号灵活性,结合 ±160μV 积分非线性、16位无失码、94.6dB 信噪比和 98.1dB 动态范围,使得 AD4853 成为在紧凑解决方案占位面积内需要高精度、高吞吐量和高精度的应用的理想选择。启用16位过采样可提供进一步的 SNR 和动态范围改进。可选的每通道偏移、增益和相位调整提供了校准和消除 DAS 上游系统级误差的能力。AD4853 具有串行外设接口寄存器配置总线,并支持低电压差分信号和互补金属氧化物半导体转换数据输出总线,可通过 LVDS/CMOS 引脚选择。在 CMOS 模式下,可以使用一到四条数据输出线,允许用户优化总线宽度和吞吐量。

商品特性

  • 完整的16位数据采集系统
  • 4个内部缓冲通道的同步采样
  • 每通道1MSPS吞吐量
  • 差分、宽共模范围输入
  • 25℃时典型输入漏电流为 ±75pA
  • 满量程输入阶跃建立时间 < 300ns
  • 集成基准电压源和基准缓冲器
  • 集成电源去耦电容
  • 1MSPS时每通道功耗为57mW,功耗随吞吐量缩放
  • 最少的外部信号调理
  • 无缝高动态范围
  • 每采样、每通道自动增益量程
  • 保持 ppm 级 INL
  • 每通道软量程输入范围,双极性或单极性
  • 双极性范围:±40V、±25V、±20V、±12.5V、±10V、±6.25V、±5V、±2.5V
  • 单极性范围:0V 至 40V、25V、20V、12.5V、10V、6.25V、5V、2.5V
  • 轨到轨输入过载容限
  • 高性能
  • INL:典型值 ±160μV
  • SNR:单次转换典型值 94.6dB
  • DR:单次转换典型值 98.1dB
  • THD:典型值 -117dB
  • CMRR:典型值 120dB
  • 数字灵活性
  • SPI CMOS 和 LVDS 串行输入和输出
  • 可选的过采样与16位数字平均
  • 可选的偏移、增益和相位校正
  • 紧凑的 7.00mm × 7.00mm、64 球 BGA 完整解决方案占位面积

应用领域

  • 自动测试设备
  • 仪器仪表与控制系统
  • 半导体制造
  • 测试与测量

数据手册PDF