SNJ54BCT8244AFK

描述: SN54BCT8244A 具有八路缓冲器的扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: SNJ54BCT8244AFK
商品编号: C3756748
商品封装: LCC-28(11.5x11.5)
包装方式: 袋装
商品毛重: 1克(g)

商品参数

商品概述

BCT8244A扫描测试器件（带八位缓冲）是德州仪器SCOPE™可测试性集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE Standard 1149.1-1990边界扫描，以简化复杂电路板组件的测试。测试电路的扫描访问通过4线测试访问端口（TAP）接口完成。测试电路可由TAP激活，对出现在器件端子上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE™八位缓冲的功能操作。在测试模式下，SCOPE™八位缓冲的正常工作被禁止，测试电路被启用以观察和控制器件的I/O边界。启用后，测试电路可执行IEEE Standard 1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。四个专用测试端子控制测试电路的工作:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还可执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行特征分析（PSA），以及从数据输出生成伪随机模式（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。SN74BCT8244A的工作温度范围为0℃至70℃。

商品特性

属于德州仪器SCOPE™可测试性产品系列成员
八位测试集成电路
兼容IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口和边界扫描架构
测试操作与测试访问端口 (TAP) 同步
通过识别TMS引脚上的双高电平电压 (10 V) 实现可选测试复位信号
具备SCOPE™指令集
包含IEEE Standard 1149.1-1990要求的指令，支持可选INTEST、CLAMP和HIGHZ指令
可在输入端执行并行特征分析
可从输出生成伪随机模式
支持输入采样/输出翻转
提供多种封装选项，包括塑料小外形 (DW) 封装、陶瓷芯片载体 (FK)，以及标准塑料和陶瓷300-mil DIP (JT、NT)

	属性	参数值
	商品目录	缓冲器/驱动器/收发器
	输入类型	-
	输出类型	三态
	工作电压	4.5V~5.5V
	元件数	-
	每个元件位数	8
	通道类型	单向

	属性	参数值
	灌电流(IOL)	48mA
	拉电流(IOH)	15mA
	系列	BCT
	工作温度	-55℃~+125℃
	静态电流(Iq)	3.5mA
	传播延迟(tpd)	-
	功能特性	输出使能