5962-9172501M3A

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描述: SN54BCT8373A 具有八路 D 类锁存器的扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: 5962-9172501M3A
商品编号: C3756799
商品封装: LCC-28(11.5x11.5)
包装方式: 袋装
商品毛重: 1克(g)

商品参数

商品概述

BCT8373A扫描测试器件内置八路D型锁存器，是德州仪器SCOPE™可测试性集成电路系列的成员。该系列器件支持IEEE Standard 1149.1-1990边界扫描，用于简化复杂电路板组件的测试。测试电路的扫描访问通过四线测试访问端口（TAP）接口实现。测试电路可被TAP激活，对器件引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。正常模式下激活TAP不会影响SCOPE™八路锁存器的功能操作。测试模式下，SCOPE™八路锁存器的正常操作被禁止，测试电路启用，可观测并控制器件的I/O边界。启用后，测试电路可执行IEEE Standard 1149.1-1990所描述的边界扫描测试操作。四个专用测试端子用于控制测试电路的运行:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还可实现其他测试功能，例如对输入数据执行并行特征分析（PSA）、从输出生成伪随机图案（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。SN74BCT8373A适合在0℃至70℃温度范围内工作。

商品特性

属于德州仪器SCOPE™可测试性产品系列成员
八路测试集成电路
兼容IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口与边界扫描架构
测试操作与测试访问端口（TAP）同步
通过识别TMS引脚上的双高电平电压（10 V）实现可选测试复位信号
支持SCOPE™指令集
包含IEEE Standard 1149.1-1990要求的指令，以及可选INTEST、CLAMP和HIGHZ指令
输入侧支持并行特征分析
输出侧可生成伪随机图案
支持输入采样/输出翻转
封装选项包含塑料小外形（DW）封装、陶瓷芯片载体（FK），以及标准塑料和陶瓷300密耳DIP封装（JT、NT）

应用领域

复杂电路板组件测试

	属性	参数值
	商品目录	缓冲器/驱动器/收发器
	输入类型	-
	输出类型	三态
	工作电压	4.5V~5.5V
	元件数	-
	每个元件位数	8
	通道类型	-

	属性	参数值
	灌电流(IOL)	64mA
	拉电流(IOH)	15mA
	系列	BCT
	工作温度	-55℃~+125℃
	静态电流(Iq)	-
	传播延迟(tpd)	10.5ns@5V
	功能特性	-