商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 芯片类型 | 电压检测器 | |
| 输出类型 | 开漏 | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 阈值电压 | 4V | |
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | 85ms | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ |
商品概述
R3116x系列是基于CMOS的电压检测器IC,具有高检测阈值精度和超低电源电流,可在极低电压下运行,例如用于系统复位。每个IC由电压参考单元、比较器、用于检测阈值设置的电阻、输出驱动器、迟滞电路和输出延迟电路组成。检测阈值在内部高精度固定,无需任何调整。有Nch开漏型和CMOS型两种输出类型。R3116x系列比R3112x系列可在更低电压下运行,并且可以由单节电池驱动。有SOT - 23 - 5、SC - 82AB和DFN(PL)1010 - 4三种封装类型。
商品特性
- 电源电流:典型值0.35μA(-VDET = 1.5V,VDD = -VDET + 1V)
- 工作电压范围:0.5V至6.0V(Topt = 25°C)
- 检测阈值范围:0.7V至5.0V(0.1V步进)
- 检测阈值精度:±0.8%(-VDET ≥ 1.5V)
- 检测阈值的温度漂移系数:典型值±30ppm/°C
- 内置输出延迟电路:使用0.022μF外部电容时典型值为100ms
- 输出延迟时间精度:±15%(-VDET ≥ 1.5V)
- 输出类型:Nch开漏“L”和CMOS
- 封装:DFN(PL)1010 - 4、SC - 82AB、SOT - 23 - 5
应用领域
- CPU和逻辑电路复位
- 电池检查器
- 窗口比较器
- 波形整形电路
- 电池备份电路
- R3112Q151C-TR-F
- R3111H601A-T1-FE
- R3112N141A-TR-FE
- R3117K313C-TR
- R3117K091A-TR
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- R3112N201A-TR-F
- R3114N401A-TR-FE
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- R3119N082A-TR-FE
- R3500S011A-E2-FE
- R3111H231C-T1-FE
- R3117N251A-TR-FE
- R3111N181C-TR-FE
- NJU7701F06-TE1
- NJU7700F25-TE1#
- R3132Q29EA-TR-FE
- R3500S009A-E2-FE
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- RN5VD42CA-TR-FE
- R3117Q094C-TR-FE
