UC2901MDREPG4
UC2901MDREPG4
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- 品牌名称
- TI(德州仪器)
- 商品型号
- UC2901MDREPG4
- 商品编号
- C3192371
- 商品封装
- SOIC-14
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 0.34克(g)
商品参数
参数完善中
商品概述
UC2901旨在解决许多与跨越电压隔离边界闭合反馈控制环路相关的问题。作为光耦合器稳定可靠的替代方案,UC2901采用了一种调幅系统,允许通过小型射频变压器或电容器耦合环路误差信号。 UC2901内部的可编程高频振荡器允许使用更小、更便宜的变压器,这些变压器可以轻松构建以满足当今市电供电电源系统的隔离要求。作为射频操作的替代方案,这些器件的外部时钟输入允许与系统时钟或开关电源(SMPS)的开关频率同步。 另一个特性是状态监测电路,当检测到的误差电压在参考电压的±10%范围内时,该电路提供一个低电平有效输出。在输入电源达到足以使器件正常工作的水平之前,DRIVERA输出、DRIVERB输出和STATUS输出将被禁用。 由于这些器件也可用作光耦合器的直流驱动器,即使可能不需要交流系统,4.5 V至40 V电源工作范围、1%精度的参考电压和高增益通用放大器的优势依然显著。
商品特性
- 内部载波振荡器可用至5 MHz
- 调制器可与外部时钟同步
- 环路状态监测器
- 受控基线——一个组装/测试地点,一个制造地点
- -55℃至125℃的扩展温度性能
- 增强型减少制造源(DMS)支持
- 增强型产品变更通知
- 用于变压器耦合隔离反馈误差信号的调幅系统
- 光耦合器的低成本替代方案
- 内部1%参考电压和误差放大器
- 按照JEDEC和行业标准进行元件鉴定,以确保在扩展温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力测试(HAST)或偏置85/85测试、温度循环测试、高压蒸煮测试或无偏置HAST测试、电迁移测试、键合金属间化合物寿命测试和模塑料寿命测试。
优惠活动
购买数量
(2500个/圆盘,最小起订量 1 个)个
起订量:1 个2500个/圆盘
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