S29GL01GT11TFIV33
S29GL01GT11TFIV33
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- 商品型号
- S29GL01GT11TFIV33
- 商品编号
- C2951599
- 商品封装
- TFSOP-56
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 接口类型 | - | |
| 存储容量 | 1Gbit | |
| 工作电压 | 1.65V~3.6V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 页写入时间(Tpp) | 60ns | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ | |
| 功能特性 | 硬件写保护;绝对写保护;写使能锁存;ECC纠错;软件写保护;上电复位;电源锁定保护 |
商品概述
S29GL01GT/512T 是基于 45 纳米工艺制造的 MIRRORBIT 闪存产品。这些器件提供快至 15 ns 的快速页访问时间,以及相应的快至 100 ns 的随机访问时间。它们具有写缓冲区功能,允许单次操作编程最多 256 字/512 字节,从而实现比标准编程算法更快的有效编程时间。这使得这些器件非常适合当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用。
商品特性
- 45 纳米 MIRRORBIT 技术
- 用于读/编程/擦除的单电源 VCC (2.7 V 至 3.6 V)
- 多功能 I/O 特性
- 宽 I/O 电压范围 VIO:1.65 V 至 VCC
- x8/x16 数据总线
- 异步 32 字节页读取
- 512 字节编程缓冲区
- 以页的倍数进行编程,最多 512 字节
- 单字和同一字多编程选项
- 自动错误检查与纠正 (ECC) — 带单位错误纠正的内部硬件 ECC
- 扇区擦除
- 统一的 128 KB 扇区
- 用于编程和擦除操作的中止与恢复命令
- 状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法用于确定器件状态
- 高级扇区保护 (ASP)
- 每个扇区的易失性和非易失性保护方法
- 独立的 2048 字节一次性编程 (OTP) 阵列
- 四个可锁定区域 (SSR0-SSR3)
- SSR0 出厂锁定
- SSR3 密码读取保护
- 通用闪存接口 (CFI) 参数表
- 温度范围/等级
- 工业级 (-40℃ to +85℃)
- 工业增强级 (-40℃ to +105℃)
- 扩展级 (-40℃ to +125℃)
- 汽车级,AEC-Q100 3 级 (-40℃ to +85℃)
- 汽车级,AEC-Q100 2 级 (-40℃ to +105℃)
- 100,000 次编程/擦除周期
- 20 年数据保持
- 封装选项
- 56 引脚 TSOP
- 64 焊球 LAA 加固 BGA,13 mm × 11 mm
- 64 焊球 LAE 加固 BGA,9 mm × 9 mm
- 56 焊球 VBU 加固 BGA,9 mm × 7 mm
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