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S29GL01GT11TFIV33引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S29GL01GT11TFIV33

S29GL01GT11TFIV33

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商品型号
S29GL01GT11TFIV33
商品编号
C2951599
商品封装
TFSOP-56​
包装方式
编带
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
接口类型-
存储容量1Gbit
工作电压1.65V~3.6V
属性参数值
页写入时间(Tpp)60ns
工作温度-40℃~+85℃
功能特性硬件写保护;绝对写保护;写使能锁存;ECC纠错;软件写保护;上电复位;电源锁定保护

商品概述

S29GL01GT/512T 是基于 45 纳米工艺制造的 MIRRORBIT 闪存产品。这些器件提供快至 15 ns 的快速页访问时间,以及相应的快至 100 ns 的随机访问时间。它们具有写缓冲区功能,允许单次操作编程最多 256 字/512 字节,从而实现比标准编程算法更快的有效编程时间。这使得这些器件非常适合当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用。

商品特性

  • 45 纳米 MIRRORBIT 技术
  • 用于读/编程/擦除的单电源 VCC (2.7 V 至 3.6 V)
  • 多功能 I/O 特性
  • 宽 I/O 电压范围 VIO:1.65 V 至 VCC
  • x8/x16 数据总线
  • 异步 32 字节页读取
  • 512 字节编程缓冲区
  • 以页的倍数进行编程,最多 512 字节
  • 单字和同一字多编程选项
  • 自动错误检查与纠正 (ECC) — 带单位错误纠正的内部硬件 ECC
  • 扇区擦除
  • 统一的 128 KB 扇区
  • 用于编程和擦除操作的中止与恢复命令
  • 状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法用于确定器件状态
  • 高级扇区保护 (ASP)
  • 每个扇区的易失性和非易失性保护方法
  • 独立的 2048 字节一次性编程 (OTP) 阵列
  • 四个可锁定区域 (SSR0-SSR3)
  • SSR0 出厂锁定
  • SSR3 密码读取保护
  • 通用闪存接口 (CFI) 参数表
  • 温度范围/等级
  • 工业级 (-40℃ to +85℃)
  • 工业增强级 (-40℃ to +105℃)
  • 扩展级 (-40℃ to +125℃)
  • 汽车级,AEC-Q100 3 级 (-40℃ to +85℃)
  • 汽车级,AEC-Q100 2 级 (-40℃ to +105℃)
  • 100,000 次编程/擦除周期
  • 20 年数据保持
  • 封装选项
  • 56 引脚 TSOP
  • 64 焊球 LAA 加固 BGA,13 mm × 11 mm
  • 64 焊球 LAE 加固 BGA,9 mm × 9 mm
  • 56 焊球 VBU 加固 BGA,9 mm × 7 mm

数据手册PDF