SN74LVT8996DWR

LVT8996 10位可寻址扫描端口（ASP）是德州仪器SCOPE™可测试性集成电路系列的成员。该器件系列支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，用于简化复杂电路组件的测试。与大多数SCOPE™器件不同，ASP本身并非边界扫描器件，它将TI的可寻址阴影端口技术应用于IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口 (TAP)，将扫描访问扩展到板级以上。本器件专为3.3 V VCC低电压工作设计，同时具备与5 V主控制器和/或目标器件接口的能力。从概念上来说，ASP是一款简单的开关，可将一组多分支主TAP信号直接连接到一组从TAP信号，例如用于将背板TAP信号连接到板级TAP。ASP提供这两个接口所需的全部信号缓冲。当主TAP和从TAP连接时，仅引入中等传播延迟，不插入存储/重定时单元。这最大限度减少了系统内使用时对板级测试向量重新格式化的需求。ASP的大多数操作与主测试时钟（PTCK）输入同步。PTCK始终直接缓冲输出到从测试时钟（STCK）输出。器件上电后，ASP默认处于主TAP与从TAP断开连接的状态（旁路信号的使用情况除外，见下文）。该复位状态也可通过主测试复位（PTRST）输入置位或通过阴影协议进入。PTRST始终直接缓冲输出到从测试复位（STRST）输出，确保ASP及其关联的从TAP可同时复位。当连接时，主测试数据输入（PTDI）和主测试模式选择（PTMS）输入分别缓冲输出到从测试数据输出（STDO）和从测试模式选择（STMS）输出，而从测试数据输入（STDI）缓冲输出到主测试数据输出（PTDO）。当断开连接时，STDO和PTDO均处于高阻抗，阴影协议应答期间除外。从TAP断开后，STMS保持其最后输出的低电平或高电平，使从TAP可保持在最后稳定状态。ASP复位后，STMS为高电平，使从TAP可同步复位到测试逻辑复位状态。在系统中，主从TAP连接基于在PTDI接收、PTDO应答的阴影协议。

• 属于德州仪器支持IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口 (TAP) 和边界扫描架构的可测试性产品系列
• 将扫描访问从板级扩展到更高级别的系统集成
• 支持在系统环境中复用低级（芯片/板级）测试
• 3.3 V供电时，主TAP和从TAP均完全支持5 V容差，可对接5 V和/或3.3 V主控制器与目标器件
• 开关架构允许主TAP直接连接从TAP
• 主TAP支持多分支，可最大程度减少背板布线通道占用
• 阴影协议可在测试逻辑复位、运行测试/空闲、Pause-DR、Pause-IR任意TAP状态下进行，支持板间测试和内置自测试
• 简单寻址（阴影）协议在主TAP完成接收与应答
• 10位地址空间最多支持1021个用户自定义板地址
• 旁路（BYP）引脚可无需使用阴影协议，强制建立主从连接
• 连接（CON）引脚可提供主从连接状态指示
• 高驱动输出（-32 mA IOH，64 mA IOL）支持主侧背板接口和从侧高扇出
• 闩锁性能超过JESD 78 II类规范的100 mA要求
• ESD保护超过JESD 22规范要求
• 2000 V 人体模型（A114-A）
• 200 V 机器模型（A115-A）
• 1000 V 充电器件模型（C101）
• 提供多种封装选项，包括塑料小外形（DW）、薄收缩小外形（PW）封装、陶瓷芯片载体（FK）和陶瓷DIP（JT）