SN74ACT8990FNR

ACT8990测试总线控制器（TBC）是德州仪器SCOPE™可测试性集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990（JTAG）边界扫描，用于简化复杂电路板组件的测试。ACT8990与其他SCOPE™集成电路不同，其功能是控制JTAG串行测试总线，而非目标边界扫描器件。JTAG串行测试总线所需的信号——测试时钟（TCK）、测试模式选择（TMS）、测试数据输入（TDI）和测试数据输出（TDO）可以无需额外逻辑，从TBC连接到目标器件。连接方式为:一串共享同一条串行测试总线的IEEE标准1149.1-1990边界扫描器件组成链路。TBC为其目标生成TMS和TDI信号，接收来自目标的TDO信号，并将其测试时钟输入（TCKI）缓冲为测试时钟输出（TCKO），分发到各个目标。TMS、TDI和TDO信号可直接或通过流水线连接到目标，重定时延迟最大可达31位。由于TBC可配置生成最多6个独立TMS信号TMS(5-0)，因此可用于控制最多六个并联连接的目标扫描路径（即共享公共TCK、TDI和TDO信号）。TBC的大多数操作与TCKI同步，器件提供测试关断（TOFF）输入用于目标接口的输出控制，提供测试复位（TRST）输入用于TBC的硬件/软件复位。此外，提供四个事件EVENT(3-0)输入输出，用于与目标器件的异步通信。每个事件都有自己的事件生成/检测逻辑，检测到的事件可由两个16位计数器计数。TBC在主机微处理器/微控制器的控制下，通过5位地址总线ADRS(4-0)和16位读写数据总线DATA(15-0)工作。实现了读（RD）和写（WR）选通，关键主机接口时序独立于TCKI周期。可对24个寄存器中的任意一个进行读写操作。除控制和状态寄存器外，TBC还包含两个命令寄存器、一个读缓冲区和一个写缓冲区。TBC的状态通过就绪（RDY）和中断（INT）输出传输到主机。主机可发送主要命令，使TBC生成所需的TMS序列，将目标从任意稳定的测试访问端口（TAP）控制器状态移动到任意其他稳定TAP状态，在运行测试/空闲TAP状态执行指令，或通过目标扫描指令或测试数据。可预设32位计数器，允许预定义数量的执行或扫描操作。出现在所选TDI输入（TDI1或TDI0）的串行数据被传输到读缓冲区，主机可读取读缓冲区以获得最多16位的串行数据流。从TDO输出传输的串行数据由主机写入写缓冲区。SN74ACT8990的工作温度范围为0℃至70℃。

• 属于德州仪器SCOPE™可测试性产品家族成员
• 兼容IEEE标准1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构
• 可控制最多6条并行目标扫描路径
• 可适配到目标的流水线延迟，最大可达31个时钟周期
• 扫描数据最长可达2^32个时钟周期
• 可执行指令最长可达2^32个时钟周期
• 每个器件包含四个双向事件引脚，用于提供额外测试能力
• 输入为TTL电压兼容
• 采用EPIC™（增强性能注入CMOS）1-μm工艺制造
• 提供多种封装:44引脚塑料有引线芯片载体（FN）、68引脚陶瓷针栅阵列（GB）、68引脚陶瓷四方扁平封装（HV）

• 复杂电路板组件边界扫描测试