AS4C128M8D3-12BINTR
1Gb DDR3同步动态随机存取存储器
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- 品牌名称
- micron(镁光)
- 商品型号
- AS4C128M8D3-12BINTR
- 商品编号
- C20509202
- 商品封装
- 78-FBGA (8x10.5)
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 同步动态随机存取内存(SDRAM) |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 功能特性 | 自动预充电;自动刷新;高速时钟同步 |
商品概述
1Gb DDR3双倍数据速率DRAM采用双倍数据速率架构以实现高速运行,内部配置为八存储体DRAM。该1Gb芯片组织为16Mbit x 8个I/O x 8存储体设备。这些同步设备在通用应用中可实现高达1600 Mb/秒/引脚的高速双倍数据速率传输。芯片设计符合所有关键DDR3 DRAM特性,所有控制和地址输入与一对外部提供的差分时钟同步。输入在差分时钟(CK上升和CK#下降)的交叉点锁存。所有I/O以源同步方式与差分DQS对同步。这些设备使用单一1.5V ± 0.075V电源供电,可提供BGA封装。
商品特性
- 符合JEDEC标准
- 电源:VDD和VDDQ = +1.5V ± 0.075V
- 工作温度:商业(扩展)(0 ~ 95°C);工业(-40 ~ 95°C)
- 支持JEDEC时钟抖动规范
- 全同步操作
- 快速时钟速率:800MHz
- 差分时钟,CK和CK#
- 双向差分数据选通 - DQS和DQS#
- 8个内部存储体用于并发操作
- 8n位预取架构
- 内部流水线架构
- 预充电和主动掉电
- 可编程模式和扩展模式寄存器
- 附加延迟(AL):0、CL - 1、CL - 2
- 可编程突发长度:4、8
- 突发类型:顺序/交错
- 输出驱动器阻抗控制
- 每64ms 8192个刷新周期
- 平均刷新周期:7.8μs(-40°C ≤ TC ≤ +85°C);3.9μs(+85°C < TC ≤ +95°C)
- 写电平调整
- OCD校准
- 动态ODT(Rtt_Nom和Rtt_WR)
- 符合RoHS标准
- 自动刷新和自刷新
- 78球8×10.5×1.2mm FBGA封装
- 所有部件均符合RoHS标准
- AS4C256M8D3L-12BCN
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- MT47H32M16BN-25E IT:D
- MT47H32M16BN-25:D
- MT42L32M16D1AB-3 WT:A
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- FCQ38999/26KJ8SAMIL-STD-461
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- CIM05U121NC
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- GTC030-32-15SW-025-B30-LC

