UCC21520EVM-286

UCC2x5xx评估板为VCCI、VDDA和VDDB配备了三个独立的螺丝端子块。带有跳线的3位插头用于所有关键输入信号，如PWM输入（INA、INB或PWM）、死区时间（DT）编程和使能/禁用功能（EN/DIS），使设计人员能够轻松评估不同的保护功能。各种测试点也支持对UCC2x5xx的大多数关键特性进行探测。此外，PCB布局不仅在每个栅极驱动器环路和带有旁路电容的电源环路中优化了最小环路面积，而且该布局还支持在初级侧和次级侧之间进行120密耳PCB板切口的高压测试。重要的是，两个输出通道之间的爬电距离通过TO252 - 2（DPAK）封装中的自举二极管得到最大化，这有助于对各种功率转换器拓扑进行高压半桥测试。如需详细的器件信息，请参考UCC21520DW、UCC20520DW、UCC21521CDW和UCC21530DWK的数据手册以及德州仪器（TI）的隔离栅极驱动器解决方案。

• 适用于宽体SOIC - 16（DW）封装的UCC21520DW、UCC20520DW和UCC21521CDW，以及宽体SOIC - 14（DWK）封装的UCC21530DWK的评估模块
• 3V至18V的VCCI电源范围，以及高达25V的VDDA/VDDB电源范围
• 4A和6A的源/灌电流能力
• 按照UL 1577标准，1分钟5.7kVRMS隔离
• TTL/CMOS兼容输入
• 用于死区时间编程的板载微调电位器
• 用于INA、INB、DT和使能/禁用的3位插头
• 针对电源旁路电容、栅极驱动器环路优化的PCB布局
• 便于初级侧和次级侧之间进行高压隔离测试的PCB板切口
• 两个输出通道之间的爬电距离最大化
• 支持通过连接外部功率级对MOSFET、IGBT和SiC MOSFET进行半桥测试
• 测试点允许探测UCC21520DW、UCC20520DW、UCC21521CDW、UCC21530DWK和其他宽体ISO驱动器系列部件的所有关键引脚