PE42524B-X
10MHz-40GHz超宽带反射式SPDT射频开关
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- 描述
- PE42524是一款采用HaRPTM技术增强的反射式SPDT射频开关芯片,支持从10MHz到40GHz的宽频带。这款宽频带翻转芯片开关提供高隔离性能,适用于雷达。在30GHz时,PE42524表现出17dB的活动端口回波损耗,47dB的隔离度和2.2dB的插入损耗。如果RF端口上没有直流电压,则无需阻塞电容器。
- 品牌名称
- pSemi(游隼半导体)
- 商品型号
- PE42524B-X
- 商品编号
- C17312557
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 射频开关 | |
| 频率 | 10MHz~40GHz | |
| 隔离度 | 48dB |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 插入损耗 | 3.1dB | |
| 工作电压 | 3.5V | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ |
商品概述
PE42524是一款采用HaRP技术增强的反射式单刀双掷(SPDT)射频开关裸片,支持10 MHz至40 GHz的宽频率范围。这款宽带倒装芯片开关具有高隔离性能、出色的线性度和低插入损耗,非常适合测试与测量(T&M)、微波回传、雷达等应用。在30 GHz时,PE42524的有源端口回波损耗为17 dB,隔离度为47 dB,插入损耗为2.2 dB。如果射频端口上没有直流电压,则无需使用隔直电容。 PE42524采用pSemi的UltraCMOS工艺制造,这是一种在蓝宝石衬底上的绝缘体上硅(SOI)技术的专利变体。 pSemi的HaRP技术增强功能可实现高线性度和出色的谐波性能。它是UltraCMOS工艺的一项创新特性,兼具砷化镓(GaAs)的性能以及传统CMOS的经济性和集成度。
商品特性
- 支持高达40 GHz的宽带
- 高端口间隔离度
- 在26.5 GHz时为48 dB
- 在35 GHz时为39 dB
- 在40 GHz时为33 dB
- 出色的线性度性能
- 在26.5 GHz时P1dB为31.5 dBm
- 在35 GHz时P1dB为28.0 dBm
- 在13.5 GHz时IIP3为50 dBm
- 快速的射频上升/下降时间,为55 ns
- 低插入损耗
- 在26.5 GHz时为1.8 dB
- 在35 GHz时为3.1 dB
- 倒装芯片裸片
应用领域
- 测试与测量
- 微波回传
- 雷达
优惠活动
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(500个/圆盘,最小起订量 1 个)个
起订量:1 个500个/圆盘
总价金额:
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